Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

مقاله مقاله نشریه

مشخصات مقاله

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

نسخه انگلیسی
Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

video

Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

sound

Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

نسخه انگلیسی

Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید:

2,545
Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

دانلود:

792
Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

استناد:

اطلاعات مقاله نشریه

عنوان

ارزیابی ضریب شکست نور در لایه های نازک سیلیکا

صفحات

 صفحه شروع 41 | صفحه پایان 48

چکیده

 ضریب شکست نور یکی از ثوابت مهم در طراحی لایه های نازک اپتیکی است و بسته به ضخامت, دانسیته لایه, شبکه کریستالی و عیوب داخلی تغییر می کند. امواج الکترومغناطیسی تابشی بر روی سطح لایه به تناسب ضریب شکست در مقادیر مختلف, جذب, منعکس و یا عبور می کند و مقداری از آن نیز بدلیل معایب سطحی و داخلی لایه پراکنده می شود. لایه های نازک سیلیکا بصورت منفرد و یا در ترکیب با سایر اکسیدها در تولید خواص اپتیکی کاربردهای فراوانی دارد. در این پژوهش تاثیر ضخامت و تخلخل لایه های نازک سیلیکا بر روی ضریب شکست و میزان عبور از لایه های اعمالی مورد ارزیابی قرار گرفته است. سیلیکا به کمک روش Sol-Gel بر روی نمونه هایی از جنس شیشه سودا - لیم لایه نشانی شده و به منظور بررسی های ساختاری, تصاویر میکروسکپی SEM, آنالیزEDAX  و آنالیز XRD از سطح لایه های پوشش داده شده تهیه گردیده است. همچنین به کمک اسپکتروفتومتری نوری طیف پرتوهای عبور و جذب از سطح لایه های نازک اعمالی تهیه و با یکدیگر مقایسه شده است. نتایج حاصل نشان می دهد ضخامت و تخلخل لایه مقادیر عبور و جذب امواج تابیده شده را تحت تاثیر قرار می دهد و هر چه از ضخامت لایه کاسته شود مقدار ضریب شکست کاهش و قابلیت عبور نور افزایش می یابد.

استنادها

  • ثبت نشده است.

    • ارجاعات

    استناددهی

    APA: کپی

    مظفری نیا، رضا. (1388). ارزیابی ضریب شکست نور در لایه های نازک سیلیکا. علوم و مهندسی سطح، -(7)، 41-48. SID. https://sid.ir/paper/120995/fa

    Vancouver: کپی

    مظفری نیا رضا. ارزیابی ضریب شکست نور در لایه های نازک سیلیکا. علوم و مهندسی سطح[Internet]. 1388؛-(7):41-48. Available from: https://sid.ir/paper/120995/fa

    IEEE: کپی

    رضا مظفری نیا، “ارزیابی ضریب شکست نور در لایه های نازک سیلیکا،” علوم و مهندسی سطح، vol. -، no. 7، pp. 41–48، 1388، [Online]. Available: https://sid.ir/paper/120995/fa

    مقالات مرتبط نشریه ای

    مقالات مرتبط همایشی

  • ثبت نشده است.

    • طرح های مرتبط

  • ثبت نشده است.

    • کارگاه های پیشنهادی






    بازگشت به بالا