مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

نسخه انگلیسی

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

video

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

sound

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

نسخه انگلیسی

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید:

2,741
مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

دانلود:

535
مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

استناد:

اطلاعات مقاله نشریه

عنوان

حل تحلیلی برای تعیین ولتاژ ناپایداری کشیدگی، در میکرو ورق دایروی تحریک شده ی الکتریکی در حالت های یک طرفه و دوطرفه

صفحات

 صفحه شروع 129 | صفحه پایان 135

چکیده

 پدیده ی «کشیدگی» یک حالت بحرانی است که در بسیاری از وسایل میکروالکترومکانیک مانند حسگرها, عملگرها و سوئیچ های میکروالکترونیک اتفاق می افتد. تعیین ولتاژی که این پدیده در آن رخ می دهد ظرفیت و محدوده ی بهره برداری این گونه وسایل را مشخص می کند. در تحقیقات گذشته, با استفاده از روش های شبیه سازی جرم فشرده, گسسته سازی سیستم و نیز تحلیل های آزمایشگاهی, برای تعیین ولتاژ کشیدگی میکروورق دایروی کارهایی انجام شده است. در این مقاله, ابتدا معادله ی ولتاژـ جابه جایی عرضی یک میکروورق گیردار دایروی در حالت های یک صفحه پشتیبان و دوصفحه پشتیبان, و براساس نظریه ی غیرخطی ون کارمن و نظریه ی کلاسیک ورق به دست آمده است. سپس روابط تحلیلی برای ولتاژ کشیدگی استاتیکی که باعث ناپایداری و خرابی سیستم می شود استخراج شده است. ولتاژ کشیدگی به دست آمده از این روابط 1.3 برابر ولتاژ کشیدگی حاصل از کاربرد روش گسسته سازی و شبیه سازی جرم فشرده است. به منظور صحه گذاری نتایج به دست آمده, شبیه سازی اجزاء محدود برای حالت یک صفحه پشتیبان, با استفاده از نرم افزار A N S Y S انجام شده که نشان می دهد انطباق بسیار خوبی با نتایج روابط تحلیلی دارند. همچنین مقایسه ی حل تحلیلی با نتایج آزمایشگاهی تحقیقات پیشین مشخص می سازد که تفاوت ها ناچیز و قابل چشم پوشی است. در انتها اثرات پارامترهای هندسی بر ولتاژ کشیدگی بررسی شده است.

استنادها

  • ثبت نشده است.
  • ارجاعات

  • ثبت نشده است.
  • استناددهی

    APA: کپی

    شوشتری، علیرضا، و سعادتمند، سیدمیلاد. (1395). حل تحلیلی برای تعیین ولتاژ ناپایداری کشیدگی, در میکرو ورق دایروی تحریک شده ی الکتریکی در حالت های یک طرفه و دوطرفه. مهندسی مکانیک شریف (شریف ویژه مهندسی مکانیک)، 32-3(1)، 129-135. SID. https://sid.ir/paper/128328/fa

    Vancouver: کپی

    شوشتری علیرضا، سعادتمند سیدمیلاد. حل تحلیلی برای تعیین ولتاژ ناپایداری کشیدگی, در میکرو ورق دایروی تحریک شده ی الکتریکی در حالت های یک طرفه و دوطرفه. مهندسی مکانیک شریف (شریف ویژه مهندسی مکانیک)[Internet]. 1395؛32-3(1):129-135. Available from: https://sid.ir/paper/128328/fa

    IEEE: کپی

    علیرضا شوشتری، و سیدمیلاد سعادتمند، “حل تحلیلی برای تعیین ولتاژ ناپایداری کشیدگی, در میکرو ورق دایروی تحریک شده ی الکتریکی در حالت های یک طرفه و دوطرفه،” مهندسی مکانیک شریف (شریف ویژه مهندسی مکانیک)، vol. 32-3، no. 1، pp. 129–135، 1395، [Online]. Available: https://sid.ir/paper/128328/fa

    مقالات مرتبط نشریه ای

    مقالات مرتبط همایشی

  • ثبت نشده است.
  • طرح های مرتبط

  • ثبت نشده است.
  • کارگاه های پیشنهادی






    بازگشت به بالا
    telegram sharing button
    whatsapp sharing button
    linkedin sharing button
    twitter sharing button
    email sharing button
    email sharing button
    email sharing button
    sharethis sharing button