Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

مقاله مقاله نشریه

مشخصات مقاله

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

نسخه انگلیسی
Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

video

Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

sound

Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

نسخه انگلیسی

Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید:

894
Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

دانلود:

591
Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

استناد:

اطلاعات مقاله نشریه

عنوان

تحلیل فرکتالی ویژگی های سطح لایه های نازک اکسید ایندیوم قلع

صفحات

 صفحه شروع 245 | صفحه پایان 251

کلیدواژه

اکسید ایندیوم آلاییده با قلع (ITO)Q2

چکیده

 در این تحقیق, لایه های نازک اکسید ایندیوم آلاییده با قلع (ITO) در ضخامت های مختلف به روش تبخیر با پرتو الکترونی بر روی بستره شیشه ای در دمای اتاق تهیه شده است. ضخامت لایه ها 100, 150 و 250 نانومتر می باشد. با استفاده از تحلیل فرکتالی, فرآیند رشد لایه (افزایش ضخامت) بر خصوصیات مورفولوژیکی سطح در حالت آمورف مورد بررسی قرار گرفت. مشاهده شد که با افزایش ضخامت, ناهمواری سطح W(RMS) و طول همبستگی عرضی V کاهش پیدا می کند. همچنین, نمای ناهمواری a و نمای رشد b به ترتیب برابر a=0.72±0.01 و b=0.11±0.01, به دست آمد. بر اساس این نتایج, دریافتیم که فرآیند رشد لایه ها را می توان به صورت ترکیبی از مدل های خطی EW و پخش سطحی مولینز توصیف نمود.

استنادها

  • ثبت نشده است.

    • ارجاعات

  • ثبت نشده است.

    • استناددهی

    APA: کپی

    حسین پناهی، فایق، و رئوفی، داوود. (1391). تحلیل فرکتالی ویژگی های سطح لایه های نازک اکسید ایندیوم قلع. پژوهش فیزیک ایران، 12(3)، 245-251. SID. https://sid.ir/paper/1878/fa

    Vancouver: کپی

    حسین پناهی فایق، رئوفی داوود. تحلیل فرکتالی ویژگی های سطح لایه های نازک اکسید ایندیوم قلع. پژوهش فیزیک ایران[Internet]. 1391؛12(3):245-251. Available from: https://sid.ir/paper/1878/fa

    IEEE: کپی

    فایق حسین پناهی، و داوود رئوفی، “تحلیل فرکتالی ویژگی های سطح لایه های نازک اکسید ایندیوم قلع،” پژوهش فیزیک ایران، vol. 12، no. 3، pp. 245–251، 1391، [Online]. Available: https://sid.ir/paper/1878/fa

    مقالات مرتبط نشریه ای

    مقالات مرتبط همایشی

  • ثبت نشده است.

    • طرح های مرتبط

  • ثبت نشده است.

    • کارگاه های پیشنهادی





    بازگشت به بالا