مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

مقاله مقاله نشریه

مشخصات مقاله

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

نسخه انگلیسی
مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

video

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

sound

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

نسخه انگلیسی

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید:

965
مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

دانلود:

585
مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

استناد:

اطلاعات مقاله نشریه

عنوان

بررسی اثر افزایش BaZrO3 بر ریزساختار و خواص دی الکتریک مایکروویو سرامیک های (0.9-x)Ba([Zn0.6Co0.4]1.3, Nb2.3)O3-0.1Ba(Ga1.2Ta1.2)O3-xBaZrO3 x=0-0.1

صفحات

 صفحه شروع 55 | صفحه پایان 62

چکیده

 سرامیک های دی الکتریک مایکروویو امروزه به عنوان اجزای غیرقابل جایگزین در دستگاه ها و سیستم های مورد استفاده در فرکانس های مایکروویو برای مثال تلفن های همراه و سیستم های ماهواره ای به کار می روند. در این تحقیق اثر افزایش مقادیر متفاوت BaZrO3, بر روی ریز ساختار و خواص دی الکتریک مایکروویو یک ترکیب با مبنای Ba(Zn1.3Nb2.3)O3(BZN) که با فرمول (0.9-x)Ba([Zn0.6Co0.4]1.3, Nb2.3)O3–0.1Ba (Ga1.2Ta1.2)O3-xBaZrO3 نشان داده می شود و در آن x=0-0.1 می باشد, مورد بررسی قرار گرفته است. دانسیته در اثر افزایش مقدار BaZrO3 تا x=0.08 افزایش و سپس کاهش می یابد. آزمایشهای پراش پرتوX نشان دهنده حضور فاز Ba (Zn1.3Nb2.3)O3 به همراه میزان بسیار ناچیزی از یک فاز ناشناخته برای سرامیک های با مقادیر x=0, 0.02, 0.04 می باشد. با این حال مطالعات ریزساختاری توسط میکرسکوپ نوری نشان داد که فاز دوم در ریز ساختار سرامیک های با x=0.06, 0.08, 0.10 نیز وجود دارد و به دلیل میزان پایین آن توسط آزمایش پراش پرتو X قابل تشخیص نیست. پیک سوپرساختار در طیف پراش پرتو X هیچ کدام از ترکیبات مشاهده نشد. فاکتور کیفیت (Qxf) برای نمونه با x=0.08 برابر با 4366GHz بود که بسیار پایین می باشد. برای بقیه نمونه ها نیز فاکتور کیفیت پایین و قابل اندازه گیری نبود. همان طور که اشاره شد بررسی های ریزساختاری و پراش پرتو X نشان داد که فاز دوم در تمامی نمونه ها وجود دارد بنابراین علت اصلی میزان پایین فاکتور کیفیت که برای تمامی نمونه ها مشاهده شده را می توان باحضور فاز دوم در ریز ساختار توجیح کرد.

استنادها

  • ثبت نشده است.

    • ارجاعات

  • ثبت نشده است.

    • استناددهی

    APA: کپی

    اسدیان، کیوان. (1394). بررسی اثر افزایش BaZrO3 بر ریزساختار و خواص دی الکتریک مایکروویو سرامیک های (0.9-x)Ba([Zn0.6Co0.4]1.3, Nb2.3)O3-0.1Ba(Ga1.2Ta1.2)O3-xBaZrO3 x=0-0.1. مواد و فناوری های پیشرفته، 4(1)، 55-62. SID. https://sid.ir/paper/252408/fa

    Vancouver: کپی

    اسدیان کیوان. بررسی اثر افزایش BaZrO3 بر ریزساختار و خواص دی الکتریک مایکروویو سرامیک های (0.9-x)Ba([Zn0.6Co0.4]1.3, Nb2.3)O3-0.1Ba(Ga1.2Ta1.2)O3-xBaZrO3 x=0-0.1. مواد و فناوری های پیشرفته[Internet]. 1394؛4(1):55-62. Available from: https://sid.ir/paper/252408/fa

    IEEE: کپی

    کیوان اسدیان، “بررسی اثر افزایش BaZrO3 بر ریزساختار و خواص دی الکتریک مایکروویو سرامیک های (0.9-x)Ba([Zn0.6Co0.4]1.3, Nb2.3)O3-0.1Ba(Ga1.2Ta1.2)O3-xBaZrO3 x=0-0.1،” مواد و فناوری های پیشرفته، vol. 4، no. 1، pp. 55–62، 1394، [Online]. Available: https://sid.ir/paper/252408/fa

    مقالات مرتبط نشریه ای

    مقالات مرتبط همایشی

  • ثبت نشده است.

    • طرح های مرتبط

  • ثبت نشده است.

    • کارگاه های پیشنهادی






    بازگشت به بالا
    telegram sharing button
    whatsapp sharing button
    linkedin sharing button
    twitter sharing button
    email sharing button
    email sharing button
    email sharing button
    sharethis sharing button