مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

نسخه انگلیسی

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

video

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

sound

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

نسخه انگلیسی

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید:

682
مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

دانلود:

579
مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

استناد:

اطلاعات مقاله نشریه

عنوان

تشخیص الگوهای غیر طبیعی در فرایند ساخت قطعات نیمه هادی با استفاده از شبکه های عصبی

صفحات

 صفحه شروع 11 | صفحه پایان 21

چکیده

 در فرایندهای ساخت قطعات نیمه هادی اطلاع از وجود الگوهای غیر طبیعی بر روی نمودارهای کنترلی مربوط به فرایند و پیش بینی وقوع آن ها امری مهم و شایان توجه است. در این نوشتار, فرایند ساخت گیت ترانزیستورهای MESFET در مدار مجتمع یک تقویت کننده مایکروویو GaAs به عنوان نمونه انتخاب شده است. سپس ضمن ارائه توضیحاتی پیرامون چگونه به دست آوردن نمودارهای کنترلی و نیز نحوه استفاده از داده های مربوط به فرایند, روش پیش بینی سری زمانی خروجی, برای پیش بینی الگوها به کار گرفته شده است. برخلاف روش های مدل سازی بر اساس مدل های تجهیزاتی, این روش می تواند تغییرات تدریجی در خروجی را پیش بینی نماید. مدل سازی سری زمانی خروجی, ابتدا با روش کلاسیک باکس- جنکینس انجام شده است و سپس با استفاده از شبکه های عصبی, مدل دیگری به دست آمده است. با مقایسه این دو مدل, محدوده کارایی هر یک از آنها مورد بحث و بررسی قرار گرفته است. سپس با کمک مدل بهینه و استفاده از شبیه سازی, امکان پیش بینی الگوهای غیر طبیعی مختلف و تاثیر طول پیش بینی بررسی شده است.

استنادها

  • ثبت نشده است.
  • ارجاعات

  • ثبت نشده است.
  • استناددهی

    APA: کپی

    فتحی پور، مرتضی، نیکتاش، افشین، و لوکس، کارو. (1379). تشخیص الگوهای غیر طبیعی در فرایند ساخت قطعات نیمه هادی با استفاده از شبکه های عصبی . دانشکده فنی دانشگاه تهران، 34(2 (پیاپی 68))، 11-21. SID. https://sid.ir/paper/381194/fa

    Vancouver: کپی

    فتحی پور مرتضی، نیکتاش افشین، لوکس کارو. تشخیص الگوهای غیر طبیعی در فرایند ساخت قطعات نیمه هادی با استفاده از شبکه های عصبی . دانشکده فنی دانشگاه تهران[Internet]. 1379؛34(2 (پیاپی 68)):11-21. Available from: https://sid.ir/paper/381194/fa

    IEEE: کپی

    مرتضی فتحی پور، افشین نیکتاش، و کارو لوکس، “تشخیص الگوهای غیر طبیعی در فرایند ساخت قطعات نیمه هادی با استفاده از شبکه های عصبی ،” دانشکده فنی دانشگاه تهران، vol. 34، no. 2 (پیاپی 68)، pp. 11–21، 1379، [Online]. Available: https://sid.ir/paper/381194/fa

    مقالات مرتبط نشریه ای

    مقالات مرتبط همایشی

  • ثبت نشده است.
  • طرح های مرتبط

  • ثبت نشده است.
  • کارگاه های پیشنهادی






    بازگشت به بالا
    telegram sharing button
    whatsapp sharing button
    linkedin sharing button
    twitter sharing button
    email sharing button
    email sharing button
    email sharing button
    sharethis sharing button