ضرایب اپتیکی و ضخامت لایه های نازک در بسیاری از شاخه های علوم و فناوری پارامترهای اساسی محسوب می شوند. بیضی سنجی روش شناخته شده و قدرتمندی برای محاسبه پارامترهای اساسی لایه های نازک، به واسطه داشتن قابلیت های غیرتخریبی و دقت آن است. در این مقاله، یک بیضی سنج تکفام که در مقایسه با دیگر بیضی سنج های مرسوم نسبتا ساده و ارزان است، طراحی کرده ایم. منبع نور به کاررفته در این طراحی یک لیزر هلیوم نیون با طول موج 633 نانومتر است. برای اندازه گیری پارامترهای بیضی سنجی (𝜓 , Δ ) از روش بیضی سنجی تحلیلگر چرخان در زوایای فرود مختلف استفاده شده است. کارایی و دقت این روش از طریق محاسبه ضرایب اپتیکی و ضخامت لایه نازک دی اکسید تیتانیم (TiO2)، با پارامترهای اپتیکی معلوم، آزموده شد. به منظور افزایش دقت اندازه گیری ها، پارامترهای بیضی سنجی (ψ و Δ ) از نواحی مختلف سطح لایه استخراج شد. ضریب شکست زیرلایه مقدار 48/1 و ضریب شکست لایه و ضریب خاموشی لایه و ضخامت لایهنازک به ترتیب، مقادیر 58/2 و 04/0 و 60/49 نانومتر به دست آمد. این نتایج، که از برازش منحنی داده های حاصل از بیضی سنجی و نیز اعمال روش وارونه سازی استخراج شده اند، صحت و کارایی چیدمان طراحی شده را نشان می دهد.