مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

مقاله مقاله نشریه

مشخصات مقاله

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

نسخه انگلیسی

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

video

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

sound

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

نسخه انگلیسی

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید:

351
مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

دانلود:

589
مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

استناد:

اطلاعات مقاله نشریه

عنوان

شبیه سازی و بررسی آزمایشگاهی پالس ادی کارنت و اشباع مغناطیسی در آزمون فلزات فرومغناطیس دارای پیتینگ زیرسطحی

صفحات

 صفحه شروع 143 | صفحه پایان 149

چکیده

 روش پالس ادی کارنت به طور متداول برای تشخیص عیوب زیرسطحی در فلزات رسانا به کار می رود. با این حال به دلیل عمق نفوذ محدود ادی کارنت, کاربرد پالس ادی کارنت برای تشخیص عیوب زیرسطحی در فلزات فرومغناطیس محدود است. به منظور تعمیم کاربرد پالس ادی کارنت برای تشخیص عیوب زیرسطحی در فلزات فرومغناطیس, عمق نفوذ ادی کارنت باید افزایش یابد. برای دست یابی به عمق نفوذ بالا اشباع مغناطیسی قطعه تحت آزمون راه حل مفیدی است. در حالت اشباع مغناطیسی, پرمابلیته مغناطیسی فلز فرومغناطیس کاهش یافته و یکنواخت می شود و در نتیجه عمق نفوذ ادی کارنت در ماده افزایش می یابد. در این مقاله از طریق مدل سازی المان محدود و آزمون های آزمایشگاهی, عملکرد روش پالس ادی کارنت برای تشخیص عیوب پیتینگ زیرسطحی در قطعه مغناطیس شده بررسی می شود. قطعه تحت آزمون, یک صفحه فولادی با ضخامت 10میلی متر است و در آن عیوب پیتینگ زیرسطحی با عمق های متفاوت ایجاد شده اند. پروب پالس ادی کارنت شامل کویل تحریک, کویل تشخیص و هسته فریتی بوده و برای به دست آوردن سیگنال های زمانی استفاده می شود. سپس ویژگی های زمانی از سیگنال های تفاضلی پالس ادی کارنت استخراج شده و برای تشخیص پیتینگ های زیرسطحی استفاده می شوند. نتایج نشان می دهد که روش پالس ادی کارنت همراه با اشباع مغناطیسی می تواند به طور موثری عیوب پیتینگ زیرسطحی را تشخیص دهد.

استنادها

  • ثبت نشده است.
  • ارجاعات

  • ثبت نشده است.
  • استناددهی

    APA: کپی

    عزیززاده، تورج، و صفی زاده، میرسعید. (1397). شبیه سازی و بررسی آزمایشگاهی پالس ادی کارنت و اشباع مغناطیسی در آزمون فلزات فرومغناطیس دارای پیتینگ زیرسطحی. مهندسی مکانیک مدرس، 19(1 )، 143-149. SID. https://sid.ir/paper/178071/fa

    Vancouver: کپی

    عزیززاده تورج، صفی زاده میرسعید. شبیه سازی و بررسی آزمایشگاهی پالس ادی کارنت و اشباع مغناطیسی در آزمون فلزات فرومغناطیس دارای پیتینگ زیرسطحی. مهندسی مکانیک مدرس[Internet]. 1397؛19(1 ):143-149. Available from: https://sid.ir/paper/178071/fa

    IEEE: کپی

    تورج عزیززاده، و میرسعید صفی زاده، “شبیه سازی و بررسی آزمایشگاهی پالس ادی کارنت و اشباع مغناطیسی در آزمون فلزات فرومغناطیس دارای پیتینگ زیرسطحی،” مهندسی مکانیک مدرس، vol. 19، no. 1 ، pp. 143–149، 1397، [Online]. Available: https://sid.ir/paper/178071/fa

    مقالات مرتبط نشریه ای

    مقالات مرتبط همایشی

  • ثبت نشده است.
  • طرح های مرتبط

  • ثبت نشده است.
  • کارگاه های پیشنهادی






    بازگشت به بالا
    telegram sharing button
    whatsapp sharing button
    linkedin sharing button
    twitter sharing button
    email sharing button
    email sharing button
    email sharing button
    sharethis sharing button