مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

نسخه انگلیسی

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

video

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

sound

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

نسخه انگلیسی

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید:

912
مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

دانلود:

299
مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

استناد:

اطلاعات مقاله نشریه

عنوان

مدل سازی قابلیت اطمینان مزرعه فتوولتاییک با استفاده از مدل مارکوف

صفحات

 صفحه شروع 248 | صفحه پایان 256

چکیده

 : استفاده از واحدهای فتوولتاییک در شبکه قدرت و مشارکت آنها در تأمین بار سیستم, رشد فزاینده ای در سال های اخیر داشته است به طوری که ظرفیت کل نصب شده فتوولتاییک در جهان از GW 5/1 در سال 2000 به صورت نمایی به GW 402 در سال 2017 رسیده است. در این تحقیق روشی تحلیلی برای ارزیابی قابلیت اطمینان مزارع بزرگ فتوولتاییک با در نظر گرفتن تغییرات توان ورودی و همچنین شاخص های قابلیت اطمینان اجزای واحد فتوولتاییک ارائه شده که می تواند برای تخمین انرژی سالانه تولیدی واحد فتوولتاییک و همچنین محاسبه شاخص های قابلیت اطمینان مورد استفاده قرار گیرد. با استفاده از مدل مارکوف, روش فراوانی و تداوم برای مدل سازی واحد فتوولتاییک همانند واحدهای چندحالته مورد استفاده قرار می گیرد و احتمال, فرکانس وقوع و نرخ گذر هر حالت بر مبنای اطلاعات آماری تابش خورشید و خصوصیات عملکردی واحد فتوولتاییک می تواند به دست آید. به دلیل وجود تعداد زیاد حالات تابش خورشید و عملکردی ماژول های فتوولتاییک از الگوریتم k-means برای دسته بندی داده ها استفاده شده است. برای نشان دادن کارامدی مدل مذکور نتایج حاصل بر روی شبکه تست RBTS مورد ارزیابی قرار گرفته اند. نتایج تحقیق بیانگر بالابودن حاشیه ظرفیت با استفاده از شاخص LOLF نسبت به استفاده موردی از شاخص LOLE است و دلیل این موضوع, طبیعت تصادفی تابش خورشید در مقایسه با واحدهای مرسوم می باشد. از این رو اهمیت مطالعه شاخص های قابلیت اطمینان وابسته به فرکانس در این سیستم ها مشهود است.

استنادها

  • ثبت نشده است.
  • ارجاعات

  • ثبت نشده است.
  • استناددهی

    APA: کپی

    خلیق، وحید، و منصف، حسن. (1397). مدل سازی قابلیت اطمینان مزرعه فتوولتاییک با استفاده از مدل مارکوف. مهندسی برق و مهندسی کامپیوتر ایران - الف مهندسی برق، 16(4 )، 248-256. SID. https://sid.ir/paper/228043/fa

    Vancouver: کپی

    خلیق وحید، منصف حسن. مدل سازی قابلیت اطمینان مزرعه فتوولتاییک با استفاده از مدل مارکوف. مهندسی برق و مهندسی کامپیوتر ایران - الف مهندسی برق[Internet]. 1397؛16(4 ):248-256. Available from: https://sid.ir/paper/228043/fa

    IEEE: کپی

    وحید خلیق، و حسن منصف، “مدل سازی قابلیت اطمینان مزرعه فتوولتاییک با استفاده از مدل مارکوف،” مهندسی برق و مهندسی کامپیوتر ایران - الف مهندسی برق، vol. 16، no. 4 ، pp. 248–256، 1397، [Online]. Available: https://sid.ir/paper/228043/fa

    مقالات مرتبط نشریه ای

    مقالات مرتبط همایشی

  • ثبت نشده است.
  • طرح های مرتبط

  • ثبت نشده است.
  • کارگاه های پیشنهادی






    بازگشت به بالا
    telegram sharing button
    whatsapp sharing button
    linkedin sharing button
    twitter sharing button
    email sharing button
    email sharing button
    email sharing button
    sharethis sharing button