پیکسل های مخلوط، دقت کلی نقشه های پوششی تهیه شده از تصاویر سنجش از دور با قدرت تفکیک مکانی مختلف را تحت تاثیر قرار می دهند. یکی از الگوریتم هایی که در سال های اخیر به منظور حل مشکل پیکسل های مخلوط ارائه شده است تکنیک تهیه نقشه در سطح زیرپیکسل نرم-سپس-سخت موسوم به STHSRM (Soft-Then-Hard Super resolution mapping)است. در این تکنیک ابتدا با توجه به ضریب بزرگنمایی، هر یک از پیکسل های تصویر اولیه به تعدادی زیرپیکسل تقسیم، و برای هر یک از آن ها مقدار شاخصی تخمین زده می شود؛ سپس با مقایسه این مقادیر، برچسب زیرپیکسل ها مشخص می گردد. مدل جذب مکانی با تخمین میزان جاذبه میان زیرپیکسل ها و پیکسل های همسایه یکی از روش های محاسبه مقدار شاخص زیرپیکسل ها است. تکنیک برچسب گذاری در واحد کلاس (Unit Of Class) نیز از جمله روش های برچسب گذاری زیرپیکسل ها است، که براساس ترتیب کلاسی تعریف شده به مقایسه مقادیر شاخص زیرپیکسل ها در هر یک از کلاس های حاضر در سطح پیکسل مخلوط و برچسب گذاری آنها می پردازد. تحقیق حاضر، با توسعه مدل جذب مکانی و تعریف مدل جذب مکانی-طیفی و همچنین ارائه روش برچسب گذاری نوین مبتنی بر تکنیک (Unit Of Class) UOC، به تعیین بهترین حالت ممکن آرایش مکانی زیرپیکسل ها پرداخته است. روش برچسب گذاری پیشنهادی با تعریف تابع هزینه و محاسبه هزینه متناظر با آرایش مکانی زیرپیکسل ها در حالات مختلف ترتیب کلاسی، حالت بهینه جانمایی زیرپیکسل ها را تعیین می کند. پیاده سازی این مدل بر روی دو تصویر Worldview-3 و ROSIS-03 و مقایسه نتایج آن با روش های پیشین تهیه نقشه در سطح زیرپیکسل نرم-سپس-سخت گویای بهبود دقت نقشه تهیه شده در سطح زیرپیکسل با روش پیشنهادی به ویژه در عوارض خطی و مرز کلاس ها است. مقدار بهبود شاخص کاپا اصلاح شده الگوریتم پیشنهادی نسبت به مدل جذب مکانی همراه با روش برچسب گذاری در واحد کلاس تطبیقی (AUOC) در ضریب بزرگنمایی2، به ترتیب برای تصاویر مذکور 053/0 و 032/0 است.