مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

مقاله مقاله نشریه

مشخصات مقاله

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

نسخه انگلیسی
مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

video

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

sound

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

نسخه انگلیسی

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید:

56
مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

دانلود:

21
مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

استناد:

اطلاعات مقاله نشریه

عنوان

تأثیر غلظت آنتیموان بر خواص نوری، الکتریکی و ساختاری لایه های نازک سولفید مس آنتیموان رسوب شده با تکنیک افشانۀ پیرولیز

صفحات

 صفحه شروع 89 | صفحه پایان 94

چکیده

 سولفید مس آنتیموان (CuSbS2) یک نیمه هادی با گاف نواری باریک و یک مادۀ جاذب بالقوه برای کاربرد در دستگاه های مختلف الکترونیک نوری مانند آشکارسازهای فروسرخ و سلول های خورشیدی است. در این مقاله, لایه های نازک CuSbS2 با روش افشانۀ پیرولیز بر روی لایه های شیشه ای در دمای ℃ 3000 , با استفاده از کلرید مس, کلرید آنتیموان و تیوره به عنوان پیش ساز, لایه نشانی شد. نمونه ها با تغییر غلظت آنتیموان (M  0/1, M  0/15 و M  0/2) در فشار 3/5 اینچ و سرعت جریان محلول 2 میلی لیتر در دقیقه به مدت 5 دقیقه تهیه شدند, در حالی که نسبت مولی Cu:S در محلول های پیش ساز (0/2: 0/1) حفظ می شد. مشخصات عنصری, ریخت شناسی, نوری و ساختاری این فیلم ها به ترتیب از داده های به دست آمده از فلورسانس پرتو ایکس پراکندۀ انرژی (EDXRF), اسپکتروفتومتر UV-VIS, میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) و پراش پرتو ایکس (XRD) انجام شد. لایه های نازک تهیه شده, بس بلور با یک قلۀ ترجیحی در (111) بودند. خواص الکتریکی لایه های نازک با شبیه سازی طیف های UV-VIS در نرم افزار SCOUT با استفاده از مدل نوسان ساز درود و کیم به دست آمد. فیلم های رسوب شده یک گسترۀ گاف نواری eV 1٫98 – 1٫84, گسترۀ هدایت Ω-1cm-1 204٫67 - 199٫59 و گستره غلظت حامل 1019×1٫27 - 1019×1٫12 هستند.

استنادها

  • ثبت نشده است.

    • ارجاعات

  • ثبت نشده است.

    • استناددهی

    مقالات مرتبط نشریه ای

  • ثبت نشده است.

    • مقالات مرتبط همایشی

  • ثبت نشده است.

    • طرح های مرتبط

  • ثبت نشده است.

    • کارگاه های پیشنهادی






    بازگشت به بالا
    telegram sharing button
    whatsapp sharing button
    linkedin sharing button
    twitter sharing button
    email sharing button
    email sharing button
    email sharing button
    sharethis sharing button