مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

مقاله مقاله نشریه

مشخصات مقاله

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

نسخه انگلیسی

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

video

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

sound

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

نسخه انگلیسی

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید:

1,329
مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

دانلود:

732
مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

استناد:

اطلاعات مقاله نشریه

عنوان

مطالعه نظری روی دایک قائم نازک توسط آرایشهای مختلف خطی

صفحات

 صفحه شروع 103 | صفحه پایان 118

چکیده

 مطالعات بسیاری بر روی ناپیوستگی های جانبی مثل گسل و دایک با روش مقاومت ویژه الکتریکی صورت گرفته است. یکی از ساده ترین روشها برای تعیین مقاومت ویژه ظاهری, تئوری تصویر چشمه جریان است که این روش تنها در حالت های خاصی مانند مرز تخت و یا کره قابل ارائه است.در این تحقیق با استفاده از تئوری تصویر به تعیین محل و آشکارسازی محل دایک قائم نازک پرداخته شده و تغییرات جانبی مقاومت ویژه با عملیات پروفیل زنی مورد ارزیابی قرار گرفته است. نتایج حاصله با استفاده از آرایه های ونر, شلومبرژه, نیم شلومبرژه و دوقطبی دوقطبی مورد بررسی قرار گرفته است.در این تحقیق ابتدا برای وضعیت های مختلف الکترودها پتانسیل محاسبه شده و سپس برای بدست آوردن مقاومت ویژه ظاهری برنامه ای با نرم افزار (MATLAB) نوشته شده و توسط آن تغییرات مقاومت ویژه ظاهری نسبت به فاصله نقطه وسط الکترودهای پتانسیل تا مرکز دایک برای K های (ضرایب بازتاب) مختلف رسم شده است. در نهایت آشکارسازی دایک برای مقاومت ویژه های متفاوت با آرایه های مختلف مورد بررسی و مقایسه قرار گرفته است.نتایج به دست آمده نشانگر اینست که تئوری تصویر چشمه جریان, نتایج قابل توجهی را برای آشکارسازی دایک قائم نازک ارائه می دهد, بطوریکه آرایه های مختلف حساسیت های متفاوتی را در آشکارسازی دایک قائم نشان می دهد, که این تفاوت ها به موقعیت الکترودها و پهنای دایک و تفکیک الکترودها وابسته است. بطور کلی نتایج به دست آمده قابلیت درخور توجه هر چهار آرایه را در آشکارسازی دایک نشان می دهد.

استنادها

  • ثبت نشده است.
  • ارجاعات

  • ثبت نشده است.
  • استناددهی

    APA: کپی

    نیک بین، نیکو، و مشین چی اصل، میرستار. (1389). مطالعه نظری روی دایک قائم نازک توسط آرایشهای مختلف خطی. زمین، 5(1 (ویژه نامه))، 103-118. SID. https://sid.ir/paper/192934/fa

    Vancouver: کپی

    نیک بین نیکو، مشین چی اصل میرستار. مطالعه نظری روی دایک قائم نازک توسط آرایشهای مختلف خطی. زمین[Internet]. 1389؛5(1 (ویژه نامه)):103-118. Available from: https://sid.ir/paper/192934/fa

    IEEE: کپی

    نیکو نیک بین، و میرستار مشین چی اصل، “مطالعه نظری روی دایک قائم نازک توسط آرایشهای مختلف خطی،” زمین، vol. 5، no. 1 (ویژه نامه)، pp. 103–118، 1389، [Online]. Available: https://sid.ir/paper/192934/fa

    مقالات مرتبط نشریه ای

    مقالات مرتبط همایشی

  • ثبت نشده است.
  • طرح های مرتبط

  • ثبت نشده است.
  • کارگاه های پیشنهادی






    بازگشت به بالا
    telegram sharing button
    whatsapp sharing button
    linkedin sharing button
    twitter sharing button
    email sharing button
    email sharing button
    email sharing button
    sharethis sharing button