Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

مقاله مقاله نشریه

مشخصات مقاله

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

نسخه انگلیسی

Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

video

Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

sound

Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

نسخه انگلیسی

Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید:

740
Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

دانلود:

548
Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

استناد:

1

اطلاعات مقاله نشریه

عنوان

بررسی نحوه توارث مقاومت به سیاهک معمولی در ذرت

صفحات

 صفحه شروع 17 | صفحه پایان 32

چکیده

 به منظور مطالعه کنترل ژنتیکی مقاومت به سیاهک معمولی (Common smut) در ذرت, هشت لاین شامل دو لاین مقاوم K1264/1 و K47/2-2-1-21-2, دو لاین نیمه مقاوم K74/1 و K47/2-2-1-4-1, دو لاین حساسK19/1  و K19 و دو لاین بسیار حساس K3304/1-2 و K47/2-2-1-3-3-1-1 در سال 1384به صورت دی آلل دو طرفه تلاقی داده شدند و در سال 1385 در شرایط آلودگی مصنوعی در طرح بلوک های کامل تصادفی در سه تکرار مورد بررسی قرار گرفتند. برای ایجاد آلودگی 10-7 روز بعد از ظهور تارهای ابریشمی (Silking) با ایجاد زخم در نوک بلال (روش Tip injection) سوسپانسیون اسپوریدی قارچ به غلظت 106 توسط سرنگ تزریق شد. در زمان رسیدگی فیزیولوژیکی دانه ها, شدت آلودگی در هر بلال تعیین گردید. نتایج تجزیه دی آلل نشان داد که اثر افزایشی و غالبیت در کنترل ژنتیکی مقاومت به این بیماری نقش دارند. لاین های K1264/1 و K74/1 با بالاترین ترکیب پذیری عمومی منفی, حداقل آلودگی را دارا بودند و لاین K3304/1-2 با بالاترین ترکیب پذیری عمومی مثبت, آلودگی بالایی را به این بیماری نشان داد. وراثت سیتوپلاسمی معنی داری برای کنترل این بیماری دیده شد. آلل های مغلوب در جهت افزایش آلودگی و آلل های غالب در جهت کاهش بیماری نقش داشتند. نحوه پراکنش والدین در اطراف خط رگرسیون Wr/Vr نشان داد که لاین K47/2-2-1-3-3-1-1 بیشترین تعداد آلل های مغلوب و لاین های K1264/1 و K74/1 بیشترین تعداد آلل های غالب را دارند.

استنادها

ارجاعات

  • ثبت نشده است.
  • استناددهی

    APA: کپی

    چوکان، رجب، زمانی، مجید، و قائدرحمت، مهناز. (1387). بررسی نحوه توارث مقاومت به سیاهک معمولی در ذرت . نهال و بذر، 24(1)، 17-32. SID. https://sid.ir/paper/20395/fa

    Vancouver: کپی

    چوکان رجب، زمانی مجید، قائدرحمت مهناز. بررسی نحوه توارث مقاومت به سیاهک معمولی در ذرت . نهال و بذر[Internet]. 1387؛24(1):17-32. Available from: https://sid.ir/paper/20395/fa

    IEEE: کپی

    رجب چوکان، مجید زمانی، و مهناز قائدرحمت، “بررسی نحوه توارث مقاومت به سیاهک معمولی در ذرت ،” نهال و بذر، vol. 24، no. 1، pp. 17–32، 1387، [Online]. Available: https://sid.ir/paper/20395/fa

    مقالات مرتبط نشریه ای

    مقالات مرتبط همایشی

  • ثبت نشده است.
  • طرح های مرتبط

  • ثبت نشده است.
  • کارگاه های پیشنهادی






    بازگشت به بالا