Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

مقاله مقاله نشریه

مشخصات مقاله

Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

video

Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

sound

Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

نسخه انگلیسی

Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید:

725
Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

دانلود:

0
Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

استناد:

اطلاعات مقاله نشریه

عنوان

تاثیر ساختار بس لایه بر ساختار و فوتولومینسانس لایه های نازک اکسید ژرمانیوم

صفحات

 صفحه شروع 369 | صفحه پایان 369

چکیده

 بس لایه های آمورف (1<x<2) GeOx/SiO2 با تبخیر متناوب پودر GeO2 و SiO2 بر روی بسترهای سیلیکون در دمای C°100 انباشت گردیدند. بررسی ساختاری با طیف سنجی فوتو الکترون های پرتو ایکس (XPS), طیف سنجی تبدیل فوریه جذب فروسرخ (FTIR) و میکروسکوپ الکترونی عبوری (TEM) انجام گرفت. این روش ها به ما امکان بررسی تحولات ساختاری و تفکیک فاز را در اثر عملیات حرارتی در لایه های نازک GeOx و بس لایه های بازپخت شده تا دمای C°900 و همچنین ظهور توده های نانومتری بی شکل و متبلور ژرمانیوم را فراهم می کنند. برای دمای پخت بزرگتر از C°400 نوار فوتولومینسانسی حول و حوش eV 1 مشاهده شد که به اثر حبس کوانتومی در توده های بی شکل ژرمانیوم نسبت داده می شود. مقایسه لومینسانس در GeOx در ساختارهای بس لایه و لایه نازک نشان داد که در بس لایه, اگرچه کنترل اندازه نانو بلورها کامل رخ نمی دهد, با این وجود سدهای SiO2 باعث افزایش شدت نوارهای لومینسانس و کاهش پهنای باند در نیمه شدت (FWHM) می شود. این بدین معنی است که اثر حبس کوانتومی در توده های ژرمانیوم محبوس درماتریس GeOx در ساختار بس لایه بهتر رخ می دهد.

استنادها

  • ثبت نشده است.
  • ارجاعات

  • ثبت نشده است.
  • استناددهی

    APA: کپی

    اردیانیان، مهدی، رینرت، اروه، و ورنیا، میشل. (1389). تاثیر ساختار بس لایه بر ساختار و فوتولومینسانس لایه های نازک اکسید ژرمانیوم. پژوهش فیزیک ایران، 10(4)، 369-369. SID. https://sid.ir/paper/468902/fa

    Vancouver: کپی

    اردیانیان مهدی، رینرت اروه، ورنیا میشل. تاثیر ساختار بس لایه بر ساختار و فوتولومینسانس لایه های نازک اکسید ژرمانیوم. پژوهش فیزیک ایران[Internet]. 1389؛10(4):369-369. Available from: https://sid.ir/paper/468902/fa

    IEEE: کپی

    مهدی اردیانیان، اروه رینرت، و میشل ورنیا، “تاثیر ساختار بس لایه بر ساختار و فوتولومینسانس لایه های نازک اکسید ژرمانیوم،” پژوهش فیزیک ایران، vol. 10، no. 4، pp. 369–369، 1389، [Online]. Available: https://sid.ir/paper/468902/fa

    مقالات مرتبط نشریه ای

    مقالات مرتبط همایشی

  • ثبت نشده است.
  • طرح های مرتبط

  • ثبت نشده است.
  • کارگاه های پیشنهادی






    مرکز اطلاعات علمی SID
    strs
    دانشگاه امام حسین
    بنیاد ملی بازیهای رایانه ای
    کلید پژوه
    ایران سرچ
    ایران سرچ
    فایل موجود نیست.
    بازگشت به بالا