مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

video

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

sound

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

نسخه انگلیسی

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید:

507
مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

دانلود:

134
مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

استناد:

اطلاعات مقاله نشریه

عنوان

بررسی اثر پخت بر ناهمواری سطوح لایه های نازک ITO تهیه شده با روش تبخیر با باریکه الکترونی از طریق تکنیک شمارش-جعبه

صفحات

 صفحه شروع 31 | صفحه پایان 36

چکیده

 در این پژوهش, لایه های نازک اکسید ایندیوم آلاییده با قلع (ITO) به روش تبخیر با باریکه الکترونی بر روی بستره های شیشه ای در دمای اتاق تهیه شدند. در ادامه, یکی از لایه ها به عنوان مرجع نگه داشته شد و بقیه لایه ها در دماهای 200oC و 300oC مدت یک ساعت پخت شدند. مطالعه ساختاری و مورفولوژیکی لایه های نازک تهیه شده به ترتیب با تکنیک های پراش سنج پرتو-x و میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) انجام شد. روند تکامل ساختار سطح لایه ها در طول فرایندهای انباشت و پخت با روش های ریاضی بررسی گردید. بعد فرکتالی سطوح لایه های نازک ITO با استفاده از روش شمارش- جعبه به صورت تابعی از دمای پخت محاسبه شد. یافته ها نشان داد که پخت لایه ها باعث تغییر در ناهمواری سطح لایه های نازک در طول فرایند پخت می شود.

استنادها

  • ثبت نشده است.
  • ارجاعات

    استناددهی

    APA: کپی

    رئوفی، داوود، و کلالی، زهرا. (1393). بررسی اثر پخت بر ناهمواری سطوح لایه های نازک ITO تهیه شده با روش تبخیر با باریکه الکترونی از طریق تکنیک شمارش-جعبه. فرآیندهای نوین در مهندسی مواد (مهندسی مواد مجلسی)، 8(3)، 31-36. SID. https://sid.ir/paper/486897/fa

    Vancouver: کپی

    رئوفی داوود، کلالی زهرا. بررسی اثر پخت بر ناهمواری سطوح لایه های نازک ITO تهیه شده با روش تبخیر با باریکه الکترونی از طریق تکنیک شمارش-جعبه. فرآیندهای نوین در مهندسی مواد (مهندسی مواد مجلسی)[Internet]. 1393؛8(3):31-36. Available from: https://sid.ir/paper/486897/fa

    IEEE: کپی

    داوود رئوفی، و زهرا کلالی، “بررسی اثر پخت بر ناهمواری سطوح لایه های نازک ITO تهیه شده با روش تبخیر با باریکه الکترونی از طریق تکنیک شمارش-جعبه،” فرآیندهای نوین در مهندسی مواد (مهندسی مواد مجلسی)، vol. 8، no. 3، pp. 31–36، 1393، [Online]. Available: https://sid.ir/paper/486897/fa

    مقالات مرتبط نشریه ای

    مقالات مرتبط همایشی

  • ثبت نشده است.
  • طرح های مرتبط

  • ثبت نشده است.
  • کارگاه های پیشنهادی






    بازگشت به بالا
    telegram sharing button
    whatsapp sharing button
    linkedin sharing button
    twitter sharing button
    email sharing button
    email sharing button
    email sharing button
    sharethis sharing button