مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

مقاله مقاله نشریه

مشخصات مقاله

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

نسخه انگلیسی

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

video

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

sound

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

نسخه انگلیسی

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید:

771
مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

دانلود:

560
مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

استناد:

اطلاعات مقاله نشریه

عنوان

بررسی جدایش و انباشت سطحی مس در لایه های نانومتری (Ni/Cu/Si100) حین لایه نشانی و عملیات حرارتی

صفحات

 صفحه شروع 1 | صفحه پایان 7

چکیده

 در این مقاله انباشت سطحی زیر لایه مس حین لایه نشانی نیکل و نیز در حین عملیات حرارتی در سیستم Ni/Cu/Si(100) مورد بررسی قرار گرفته است. به منظور بررسی سطح در مقیاس نانومتری از روش طیف نگاری XPS استفاده گردید. با استفاده از میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) کیفیت لایه ها و زبری سطح بررسی شد و با اندازه گیری زاویه تماسی قطرات میکرولیتری آب, انرژی سطحی نمونه ها مقایسه گردیدند. نتایج نشان می دهد انباشت سطحی مس حین لایه نشانی با افزایش ضخامت لایه نیکل در محدوده 2-4nm کاهش یافته و در ضخامت بیش از 4nm, مس بر روی سطح مشاهده نمی گردد. تحلیل نتایج به روش Tougaard و همچنین استفاده از شدت نسبی قله ها نشان می دهد که مس انباشته شده به صورت یکنواختی با ضخامت تک لایه اتمی بر روی سطح قرار گرفته است. آزمایش زاویه تماسی مشخص می نماید که با کاهش ضخامت لایه نیکل, انرژی سطحی نمونه ها کاهش یافته و به انرژی سطحی مس نزدیک می شود. تحلیل Tougaard مشخص می کند که با انجام عملیات حرارتی در محدوده دمایی 150-185oC, مس انباشته شده افزایش یافته و به صورت جزایر سه بعدی در می آید که این پدیده با نتایج AFM همخوانی دارد.

استنادها

  • ثبت نشده است.
  • ارجاعات

  • ثبت نشده است.
  • استناددهی

    APA: کپی

    رسولی، رضا، احدیان، محمدمهدی، و ایرجی زاد، اعظم. (1387). بررسی جدایش و انباشت سطحی مس در لایه های نانومتری (Ni/Cu/Si100) حین لایه نشانی و عملیات حرارتی. علوم و مهندسی سطح، -(6)، 1-7. SID. https://sid.ir/paper/121039/fa

    Vancouver: کپی

    رسولی رضا، احدیان محمدمهدی، ایرجی زاد اعظم. بررسی جدایش و انباشت سطحی مس در لایه های نانومتری (Ni/Cu/Si100) حین لایه نشانی و عملیات حرارتی. علوم و مهندسی سطح[Internet]. 1387؛-(6):1-7. Available from: https://sid.ir/paper/121039/fa

    IEEE: کپی

    رضا رسولی، محمدمهدی احدیان، و اعظم ایرجی زاد، “بررسی جدایش و انباشت سطحی مس در لایه های نانومتری (Ni/Cu/Si100) حین لایه نشانی و عملیات حرارتی،” علوم و مهندسی سطح، vol. -، no. 6، pp. 1–7، 1387، [Online]. Available: https://sid.ir/paper/121039/fa

    مقالات مرتبط نشریه ای

    مقالات مرتبط همایشی

  • ثبت نشده است.
  • طرح های مرتبط

  • ثبت نشده است.
  • کارگاه های پیشنهادی






    بازگشت به بالا
    telegram sharing button
    whatsapp sharing button
    linkedin sharing button
    twitter sharing button
    email sharing button
    email sharing button
    email sharing button
    sharethis sharing button