Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

مقاله مقاله نشریه

مشخصات مقاله

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

نسخه انگلیسی
Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

video

Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

sound

Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

نسخه انگلیسی

Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید:

1,222
Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

دانلود:

567
Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

استناد:

اطلاعات مقاله نشریه

عنوان

ساخت و بررسی نمونه های حجمی و لایه نازک فریت استرانسیوم

صفحات

 صفحه شروع 119 | صفحه پایان 128

چکیده

 در این مقاله نمونه های حجمی و لایه های نازک فریت استرانسیوم مورد مطالعه قرار گرفته اند. بزرگ بودن مقاومت ویژه در فریت استرانسیوم, تلفات ناشی از جریانهای گردابی را کاهش داده و به همین جهت, می توان از آن در مدارهای مغناطیسی مخصوص فرکانسهای بزرگ, استفاده کرد. از طرف دیگر خاصیت مغناطیسی دایم فریت استرانسیوم نیز بسیار مورد توجه است. در ابتدا به فرایند تهیه نمونه های حجمی فریت استرانسیوم به روش حالت جامد می پردازیم. برای به دست آوردن خواص مغناطیسی بهتر, در ساخت نمونه ها از عامل استوکیومتری (n) یعنی نسبت Fe2O3/SrO به مقدار 5.25 استفاده شد. برای کنترل رشد دانه ها در ساختار نمونه ها از افزودنیهای CaO و SiO2 استفاده کردیم نمونه ها به دو صورت همسانگرد و ناهمسانگرد تهیه شدند. برای تهیه نمونه های ناهمسانگرد از میدان مغناطیسی حدود 1 T برای جهت دهی دانه ها در حین پرس نمونه ها, استفاده شده است. سپس به منظور بررسی و مقایسه خواص ساختاری و مغناطیسی نمونه های همسانگرد و ناهمسانگرد از پراش پرتو x, میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) و تحلیل EDAX و مغناطیس سنج استفاده شد. نتایج نشان می دهند که در اثر اعمال میدان, خواص ساختاری و مغناطیسی نمونه های ناهمسانگرد به طور قابل ملاحظه, بهبود می یابد که دلیل آن چرخش ذرات در اثر اعمال میدان, هنگام پرس کردن نمونه است. در مرحله بعد با استفاده از نمونه های حجمی, لایه های نازک فریت استرانسیوم را به روش تپش لیزری (PLD) تهیه کردیم. در تهیه لایه نازک از زیرلایه Si (111) استفاده شد. سپس بررسی ساختار لایه هارا توسط پراش پرتو x, میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) و تحلیل EDAX انجام دادیم. این بررسیها روی نمونه های مختلف نشان داد که برای تشکیل فاز بلوری فریت استرانسیوم باید دمای زیر لایه بالاتر از 800°C انتخاب شود. شرایط بهینه برای ساخت لایه های نازک فریت استرانسیوم, در دمای زیر لایه 840°C و فشار اکسیژن 75mtorr به دست آمد.

استنادها

  • ثبت نشده است.

    • ارجاعات

  • ثبت نشده است.

    • استناددهی

    APA: کپی

    پوربافرانی، احمد، کاملی، پرویز، و سلامتی، هادی. (1387). ساخت و بررسی نمونه های حجمی و لایه نازک فریت استرانسیوم . پژوهش فیزیک ایران، 8(3)، 119-128. SID. https://sid.ir/paper/1575/fa

    Vancouver: کپی

    پوربافرانی احمد، کاملی پرویز، سلامتی هادی. ساخت و بررسی نمونه های حجمی و لایه نازک فریت استرانسیوم . پژوهش فیزیک ایران[Internet]. 1387؛8(3):119-128. Available from: https://sid.ir/paper/1575/fa

    IEEE: کپی

    احمد پوربافرانی، پرویز کاملی، و هادی سلامتی، “ساخت و بررسی نمونه های حجمی و لایه نازک فریت استرانسیوم ،” پژوهش فیزیک ایران، vol. 8، no. 3، pp. 119–128، 1387، [Online]. Available: https://sid.ir/paper/1575/fa

    مقالات مرتبط نشریه ای

    مقالات مرتبط همایشی

  • ثبت نشده است.

    • طرح های مرتبط

  • ثبت نشده است.

    • کارگاه های پیشنهادی





    بازگشت به بالا