APA:
کپیشکوری، رضا، و حیدری، حسن. (1396). بررسی یکنواختی لایه نازک SiO2, تولید شده با روش تبخیر باریکه الکترون و تبخیر گرمایی. پژوهش فیزیک ایران، 17(4 )، 621-628. SID. https://sid.ir/paper/2032/fa
Vancouver:
کپیشکوری رضا، حیدری حسن. بررسی یکنواختی لایه نازک SiO2, تولید شده با روش تبخیر باریکه الکترون و تبخیر گرمایی. پژوهش فیزیک ایران[Internet]. 1396؛17(4 ):621-628. Available from: https://sid.ir/paper/2032/fa
IEEE:
کپیرضا شکوری، و حسن حیدری، “بررسی یکنواختی لایه نازک SiO2, تولید شده با روش تبخیر باریکه الکترون و تبخیر گرمایی،” پژوهش فیزیک ایران، vol. 17، no. 4 ، pp. 621–628، 1396، [Online]. Available: https://sid.ir/paper/2032/fa