مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

نسخه انگلیسی

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

video

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

sound

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

نسخه انگلیسی

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید:

586
مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

دانلود:

778
مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

استناد:

اطلاعات مقاله نشریه

عنوان

شناسایی نانولایه ها با طیف سنجی افت انرژی الکترون بازتابی، مطالعه موردی SrTiO3

صفحات

 صفحه شروع 69 | صفحه پایان 75

چکیده

 با تکنیک طیف سنجی افت انرژی الکترون بازتابی(REELS), در انرژی کم می توان خواص الکترونیکی لایه های نازک و نانو ساختارها و ساختار الکترونی سطح را تعیین کرد. در این مقاله, با استفاده از سطح مقطع ناکشسان تجربی REELS به دست آمده به روش توگارد – چورکن دورف, تابع دی الکتریک تیتانیت استرانسیم با روش یوبرو-توگارد تعیین می شود. سطح مقطع تئوری با توافق خوبی با تجربی در انرژی 1423 و زاویه ی ورودی و خروجی ° 35, ° 15 به دست آمد. علاوه بر این, توزیع زاویه ای پارامتر تحریک پذیری سطح برای این بلور در انرژی های 1000, 1423, 2000, 2500و 3000 تعیین شد. در این راستا از تعریف پائولی و توگارد, که به عنوان تغییر در احتمال تحریک پذیری یک الکترون که بواسطه حضور سطح در مقایسه با الکترون در حال حرکت در محیط نیمه بی نهایت است, استفاده شد. محاسبه این پارامتر بر پایه ی سطح مقطح پاشندگی ناکشسان دیفرانسیلی الکترون, به دست آمده از نرم افزار QUEELS که برای طیف افت انرژی الکترون بازتابی معتبر است, می-باشد.

استنادها

  • ثبت نشده است.
  • ارجاعات

  • ثبت نشده است.
  • استناددهی

    APA: کپی

    دریس، جمیله، و حاجتی، شاکر. (1396). شناسایی نانولایه ها با طیف سنجی افت انرژی الکترون بازتابی, مطالعه موردی SrTiO3. پژوهش سیستم های بس ذره ای (علوم دانشگاه شهید چمران)، 7(14 )، 69-75. SID. https://sid.ir/paper/243853/fa

    Vancouver: کپی

    دریس جمیله، حاجتی شاکر. شناسایی نانولایه ها با طیف سنجی افت انرژی الکترون بازتابی, مطالعه موردی SrTiO3. پژوهش سیستم های بس ذره ای (علوم دانشگاه شهید چمران)[Internet]. 1396؛7(14 ):69-75. Available from: https://sid.ir/paper/243853/fa

    IEEE: کپی

    جمیله دریس، و شاکر حاجتی، “شناسایی نانولایه ها با طیف سنجی افت انرژی الکترون بازتابی, مطالعه موردی SrTiO3،” پژوهش سیستم های بس ذره ای (علوم دانشگاه شهید چمران)، vol. 7، no. 14 ، pp. 69–75، 1396، [Online]. Available: https://sid.ir/paper/243853/fa

    مقالات مرتبط نشریه ای

    مقالات مرتبط همایشی

  • ثبت نشده است.
  • طرح های مرتبط

  • ثبت نشده است.
  • کارگاه های پیشنهادی






    بازگشت به بالا
    telegram sharing button
    whatsapp sharing button
    linkedin sharing button
    twitter sharing button
    email sharing button
    email sharing button
    email sharing button
    sharethis sharing button