مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

نسخه انگلیسی

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

video

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

sound

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

نسخه انگلیسی

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید:

458
مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

دانلود:

476
مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

استناد:

اطلاعات مقاله نشریه

عنوان

بررسی ویژگی های ساختاری و الکتریکی لایه های نازک پنتااکسید وانادیوم آلاییده با ایندیوم تهیه شده به روش گرما کافت افشانه ای

صفحات

 صفحه شروع 259 | صفحه پایان 266

چکیده

نانوساختارهای پنتااکسید وانادیوم آلاییده با درصدهای وزنی مختلف ایندیوم (0, 10, 20 و at. %30 در محلول) به روش گرما کافت افشانه ای (اسپری پایرولیزیز) تهیه شدند. لایه های نازک تهیه شده به کمک پراش پرتو ایکس(XRD), تصویربرداری با میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) و آزمایش اثر هال مشخصه یابی شدند. نتایج XRD نشان داد که لایه های نازک در فاز چارگوشی بلوری می شوند. افزایش مقدار ایندیوم به شدت منجر به افزایش بی نظمی نانوساختارها و کاهش اندازه بلورک ها شده به طوری که اندازه بلورک ها با افزودن 30% وزنی ایندیوم به پنتااکسید وانادیوم تا بیش از 50% نسبت به نمونه خالص کاهش یافته است. تصاویر SEM لایه ها را نانوساختارهای تک فاز تشکیل شده از نانومیله و نانوتسمه هایی با پهنای متوسط nm 100-50 نشان داد. اندازه گیری های اثر هال نشان داد که نمونه های مورد بررسی همه نیمرسانای نوع n هستند و مقاومت آنها با افزایش ایندیوم افزایش یافته است که این را نیز می توان به افزایش بی نظمی ساختاری نمونه ها نسبت داد.

استنادها

  • ثبت نشده است.
  • ارجاعات

  • ثبت نشده است.
  • استناددهی

    APA: کپی

    پیله ورشهری، راحله، شافعی، سونیا، و طباطبایی یزدی، شکوفه. (1399). بررسی ویژگی های ساختاری و الکتریکی لایه های نازک پنتااکسید وانادیوم آلاییده با ایندیوم تهیه شده به روش گرما کافت افشانه ای. بلورشناسی و کانی شناسی ایران، 28(1 )، 259-266. SID. https://sid.ir/paper/364973/fa

    Vancouver: کپی

    پیله ورشهری راحله، شافعی سونیا، طباطبایی یزدی شکوفه. بررسی ویژگی های ساختاری و الکتریکی لایه های نازک پنتااکسید وانادیوم آلاییده با ایندیوم تهیه شده به روش گرما کافت افشانه ای. بلورشناسی و کانی شناسی ایران[Internet]. 1399؛28(1 ):259-266. Available from: https://sid.ir/paper/364973/fa

    IEEE: کپی

    راحله پیله ورشهری، سونیا شافعی، و شکوفه طباطبایی یزدی، “بررسی ویژگی های ساختاری و الکتریکی لایه های نازک پنتااکسید وانادیوم آلاییده با ایندیوم تهیه شده به روش گرما کافت افشانه ای،” بلورشناسی و کانی شناسی ایران، vol. 28، no. 1 ، pp. 259–266، 1399، [Online]. Available: https://sid.ir/paper/364973/fa

    مقالات مرتبط نشریه ای

    مقالات مرتبط همایشی

  • ثبت نشده است.
  • طرح های مرتبط

  • ثبت نشده است.
  • کارگاه های پیشنهادی






    بازگشت به بالا
    telegram sharing button
    whatsapp sharing button
    linkedin sharing button
    twitter sharing button
    email sharing button
    email sharing button
    email sharing button
    sharethis sharing button