Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

مقاله مقاله نشریه

مشخصات مقاله

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

نسخه انگلیسی

Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

video

Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

sound

Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

نسخه انگلیسی

Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید:

1,441
Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

دانلود:

656
Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

استناد:

اطلاعات مقاله نشریه

عنوان

شناسایی سریع محصول آلوده به سم آفت کش با روش های نوین فناوری آزمون غیرمخرب

صفحات

 صفحه شروع 58 | صفحه پایان 65

چکیده

 آفت کش ها یا سموم شیمیایی که برای کنترل آفت ها و بیماری های گیاهی استفاده می شوند, اگر چه سبب افزایش کارایی تولید محصول هستند, می توانند محیط زیست و مواد غذایی را آلوده کنند. استفاده بیش از حد و نادرست آفت کش ها در طول تولید, عدم توجه به دوره کارنس سموم, برداشت زودهنگام محصولات سم پاشی شده و ارائه آنها به بازار, و فروش این محصولات بلافاصله یا در مدت زمان کوتاهی پس از سم پاشی, منجر به افزایش باقی مانده سموم در آنها از حد مجاز می شود که مخاطرات جدی برای سلامت و ایمنی مصرف کننده در پی دارد. به منظور حفظ سلامت عمومی, شناسایی و تعیین آلودگی محصولات کشاورزی (به ویژه میوه ها و سبزی ها) به سموم آفت کش بسیار ضروری است. در حال حاضر برای اندازه گیری غلظت باقی مانده سموم, از روش های مخرب مختلفی استفاده می شود که بسیار پرهزینه و زمان بر هستند و نیاز به نیروی متخصص و آموزش دیده و آزمایشگاه های پیشرفته دارند. بنابراین, توسعه یک روش غیرمخرب سریع, ساده, کم هزینه, ناآلاینده و قابل اعتماد به منظور تشخیص باقی مانده سموم آفت کش بسیار ضروری است. در این مقاله, ضمن ارائه پیشرفت های نوین در فناوری آزمون غیرمخرب که می توانند برای شناسایی سریع محصول آلوده به سموم شیمیایی استفاده شوند, به معرفی سامانه نوین و قابل حمل طراحی شده برای این منظور مبتنی بر روش اپتیکی اسپکتروسکوپی فروسرخ نزدیک پرداخته شده است.

استنادها

  • ثبت نشده است.
  • ارجاعات

  • ثبت نشده است.
  • استناددهی

    APA: کپی

    جمشیدی، بهاره. (1397). شناسایی سریع محصول آلوده به سم آفت کش با روش های نوین فناوری آزمون غیرمخرب. فناوری آزمون های غیرمخرب، 2(2 )، 58-65. SID. https://sid.ir/paper/370836/fa

    Vancouver: کپی

    جمشیدی بهاره. شناسایی سریع محصول آلوده به سم آفت کش با روش های نوین فناوری آزمون غیرمخرب. فناوری آزمون های غیرمخرب[Internet]. 1397؛2(2 ):58-65. Available from: https://sid.ir/paper/370836/fa

    IEEE: کپی

    بهاره جمشیدی، “شناسایی سریع محصول آلوده به سم آفت کش با روش های نوین فناوری آزمون غیرمخرب،” فناوری آزمون های غیرمخرب، vol. 2، no. 2 ، pp. 58–65، 1397، [Online]. Available: https://sid.ir/paper/370836/fa

    مقالات مرتبط نشریه ای

    مقالات مرتبط همایشی

  • ثبت نشده است.
  • طرح های مرتبط

  • ثبت نشده است.
  • کارگاه های پیشنهادی






    بازگشت به بالا