مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

نسخه انگلیسی

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

video

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

sound

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

نسخه انگلیسی

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید:

1,885
مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

دانلود:

740
مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

استناد:

اطلاعات مقاله نشریه

عنوان

بررسی خواص فیزیکی لایه های نازک رسانا و شفاف اکسید ایندیم آلاییده به قلع برحسب ضخامت و دمای بازپخت در خلا

صفحات

 صفحه شروع 91 | صفحه پایان 98

چکیده

لایه های نازک اکسید ایندیم آلاییده به قلع ITO)) با ضخامتهای مختلف 130-620 nm بر زیرلایه های شیشه نازک به شیوه کندوپاش RF و با استفاده از هدف سرامیکی ITO (%90 wt. In2O3 و (%10 wt. SnO2 لایه نشانی و سپس در محیط خلا گرمادهی شد ند. سرشتیهای الکتریکی و اپتیکی نمونه های ITO, پیش و پس از گرمادهی در دماهای مختلف به وسیله یک سیستم اندازه گیری مقاومت چارسوزنی و طیف سنج UV/VIS/IR بررسی و مقایسه شدند. ساختار بلوری لایه های گرمادهی شده در دمای بهینه oC  400با آنالیز پراش پرتو ایکس XRD مورد مطالعه قرار گرفت. از آنالیز SEM نیز برای بررسی ساختار سطحی لایه بهینه بهره گرفته شد. بررسی نتایج حاصل از آنالیزها نشان می دهد که با افزایش ضخامت لایه ها و تغییر ساختار بلوری, سرشتیهای الکتریکی و اپتیکی ماده, نظیر مقاومت سطحی, مقاومت ویژه, و شفافیت لایه ها تغییر می کند, به طوریکه لایه 130 nm با ضخامت کمتر در دمای oC 400, دارای شفافیت 83.71%, و مقاومت ویژه2.34×10-4 Wmc  است. لایه 620 nm با شفافیت 79.7%, در oC  400کمترین مقاومت ویژه 1×10-4 Wmc » را نشان می دهد که می توان آن را به عنوان لایه بهینه ضخیم با مقاومت سطحی 1.6 W/ÿ برای کاربردهای مختلف معرفی کرد.

استنادها

  • ثبت نشده است.
  • ارجاعات

  • ثبت نشده است.
  • استناددهی

    APA: کپی

    معنوی زاده، نگین، ملکی، محمدهادی، خدایاری، علیرضا، و اصل سلیمانی، ابراهیم. (1387). بررسی خواص فیزیکی لایه های نازک رسانا و شفاف اکسید ایندیم آلاییده به قلع برحسب ضخامت و دمای بازپخت در خلا. بلورشناسی و کانی شناسی ایران، 16(1)، 91-98. SID. https://sid.ir/paper/3860/fa

    Vancouver: کپی

    معنوی زاده نگین، ملکی محمدهادی، خدایاری علیرضا، اصل سلیمانی ابراهیم. بررسی خواص فیزیکی لایه های نازک رسانا و شفاف اکسید ایندیم آلاییده به قلع برحسب ضخامت و دمای بازپخت در خلا. بلورشناسی و کانی شناسی ایران[Internet]. 1387؛16(1):91-98. Available from: https://sid.ir/paper/3860/fa

    IEEE: کپی

    نگین معنوی زاده، محمدهادی ملکی، علیرضا خدایاری، و ابراهیم اصل سلیمانی، “بررسی خواص فیزیکی لایه های نازک رسانا و شفاف اکسید ایندیم آلاییده به قلع برحسب ضخامت و دمای بازپخت در خلا،” بلورشناسی و کانی شناسی ایران، vol. 16، no. 1، pp. 91–98، 1387، [Online]. Available: https://sid.ir/paper/3860/fa

    مقالات مرتبط نشریه ای

    مقالات مرتبط همایشی

  • ثبت نشده است.
  • طرح های مرتبط

  • ثبت نشده است.
  • کارگاه های پیشنهادی






    بازگشت به بالا
    telegram sharing button
    whatsapp sharing button
    linkedin sharing button
    twitter sharing button
    email sharing button
    email sharing button
    email sharing button
    sharethis sharing button