مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

نسخه انگلیسی

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

video

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

sound

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

نسخه انگلیسی

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید:

788
مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

دانلود:

484
مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

استناد:

اطلاعات مقاله نشریه

عنوان

بررسی لایه های فروالکتریک به وسیله مدل آیزینگ در یک میدان عرضی

صفحات

 صفحه شروع 55 | صفحه پایان 62

چکیده

 فیلم های فروالکتریک را با اسفتاده از مدل آیزینگ در یک میدان عرضی, تحت تقریب میدان متوسط مورد بحث و بررسی قرار داده ایم, فیلم N لایه ای با تقارن مکعبی ساده و برهم کنش نزدیکترین همسایه را در نظر می گیریم, و چنان فرض می کنیم که قدرت تبادل شبه اسپین ها و میدان عرضی لایه های سطحی نسبت به لایه های کپه ای متفاوت باشد. ما با این مدل روابط واضحی برای دیاگرام های فاز, نیمرخ پارامتر نظم به دست می آوریم. در چنین فیلمهایی دمای کوری فیلم نسبت به دمای کوری کپه می تواند به هر مقدار بالاتر یا پایین تر منتقل شود. اگر قدرت تبادلی شبه اسپین های سطحی به اندازه کافی بزرگ باشد, حتی وقتی مقدار میدان عرضی بزرگتر از حالت بحرانی شود, هنوز گذار فاز به حالت فروالکتریک وجود دارد. در فیلم هایی با قطبش سطحی افزایش یافته و Ns≥2 ماکزیمم پارامتر نظم در لایه های مجاور بیرونی ترین لایه سطحی رخ می دهد.

استنادها

  • ثبت نشده است.
  • ارجاعات

  • ثبت نشده است.
  • استناددهی

    APA: کپی

    فرجامی شایسته، صابر، و سلیمانی، محمدعلی. (1381). بررسی لایه ‌های فروالکتریک به وسیله مدل آیزینگ در یک میدان عرضی. نشریه علوم (دانشگاه خوارزمی)، 2(2-1)، 55-62. SID. https://sid.ir/paper/44123/fa

    Vancouver: کپی

    فرجامی شایسته صابر، سلیمانی محمدعلی. بررسی لایه ‌های فروالکتریک به وسیله مدل آیزینگ در یک میدان عرضی. نشریه علوم (دانشگاه خوارزمی)[Internet]. 1381؛2(2-1):55-62. Available from: https://sid.ir/paper/44123/fa

    IEEE: کپی

    صابر فرجامی شایسته، و محمدعلی سلیمانی، “بررسی لایه ‌های فروالکتریک به وسیله مدل آیزینگ در یک میدان عرضی،” نشریه علوم (دانشگاه خوارزمی)، vol. 2، no. 2-1، pp. 55–62، 1381، [Online]. Available: https://sid.ir/paper/44123/fa

    مقالات مرتبط نشریه ای

    مقالات مرتبط همایشی

  • ثبت نشده است.
  • طرح های مرتبط

  • ثبت نشده است.
  • کارگاه های پیشنهادی






    بازگشت به بالا
    telegram sharing button
    whatsapp sharing button
    linkedin sharing button
    twitter sharing button
    email sharing button
    email sharing button
    email sharing button
    sharethis sharing button