Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

مقاله مقاله نشریه

مشخصات مقاله

Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

video

Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

sound

Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

نسخه انگلیسی

Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید:

707
Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

دانلود:

0
Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

استناد:

اطلاعات مقاله نشریه

عنوان

توسعه یک مدل دو هدفه برای مساله حداکثر پوشش با محدودیت پارامترهای صف

صفحات

 صفحه شروع 1 | صفحه پایان 13

چکیده

 مساله مکان یابی حداکثر پوشش (MCLP) سعی در حداکثر نمودن پوشش جمعیتی می کند که در یک حداکثر فاصله یا زمان مشخص از یک تجهیز قرار دارند. توسعه های بسیاری جهت بهبود کاربردهای این مساله ارائه شده است که یکی ار آنها ترکیب این مساله با مدلهای صف است. به عنوان مثال مکان یابی محل تعدادی خدمات دهنده با هدف حداکثر نمودن پوشش مشتریان و محدودیت در طول یا زمان انتظار مشتریان در صف. در این مقاله مدل ارائه شده توسط کورآ و لورنا که به صورت یک مساله حداکثر پوشش با محدودیت شاخصهای صف است, توسعه داده شده می شود. بگونه ای که علاوه بر تابع هدف حداکثر پوشش, هدف حداقل نمودن فواصل خدمت دهنده ها تا مشتریان نیز در نظر گرفته می شود. بدین منظور بر خلاف مدل مقاله اصلی محدودیت خاصی در تخصیص مشتریان به گره های خدمت دهی ایجاد نگردیده و این خود مدل خواهد بود که نحوه تخصیص را مشخص می کند. مدل توسعه داده شده توسط الگوریتم ژنتیک و نرم افزار CPLEX حل و نتایج حاصل نشان دهنده عملکرد مطلوب الگوریتم توسعه داده شده می باشد.

استنادها

  • ثبت نشده است.
  • ارجاعات

  • ثبت نشده است.
  • استناددهی

    APA: کپی

    سیف برقی، مهدی، فرقانی، راضیه، و راثی، ظریفه. (1389). توسعه یک مدل دو هدفه برای مساله حداکثر پوشش با محدودیت پارامترهای صف. مطالعات مدیریت صنعتی، 8(18)، 1-13. SID. https://sid.ir/paper/466339/fa

    Vancouver: کپی

    سیف برقی مهدی، فرقانی راضیه، راثی ظریفه. توسعه یک مدل دو هدفه برای مساله حداکثر پوشش با محدودیت پارامترهای صف. مطالعات مدیریت صنعتی[Internet]. 1389؛8(18):1-13. Available from: https://sid.ir/paper/466339/fa

    IEEE: کپی

    مهدی سیف برقی، راضیه فرقانی، و ظریفه راثی، “توسعه یک مدل دو هدفه برای مساله حداکثر پوشش با محدودیت پارامترهای صف،” مطالعات مدیریت صنعتی، vol. 8، no. 18، pp. 1–13، 1389، [Online]. Available: https://sid.ir/paper/466339/fa

    مقالات مرتبط نشریه ای

    مقالات مرتبط همایشی

  • ثبت نشده است.
  • طرح های مرتبط

  • ثبت نشده است.
  • کارگاه های پیشنهادی






    مرکز اطلاعات علمی SID
    strs
    دانشگاه امام حسین
    بنیاد ملی بازیهای رایانه ای
    کلید پژوه
    ایران سرچ
    ایران سرچ
    فایل موجود نیست.
    بازگشت به بالا