مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

نسخه انگلیسی

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

video

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

sound

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

نسخه انگلیسی

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید:

591
مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

دانلود:

0
مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

استناد:

اطلاعات مقاله نشریه

عنوان

اسپکترومتری فلوئورسانس ایکس با سیستم تحریک مستقیم بر روی عناصر در حد نانوگرم و کاربرد آن در تعیین مقدار همزمانی فلزات در داخل پلاسم

صفحات

 صفحه شروع 2750 | صفحه پایان 2750

کلیدواژه

ثبت نشده است

چکیده

 تولید کننده اشعه ایکس با سطح تحریک کننده کوچک و با استفاده از فیلتر نازک مولیبدن، به عنوان منبع اصلی تغذیه یک دستگاه اسیکترومتر استفاده شده است.نمونه ها به صورت یک لایه نازک بر روی یک ورقه پلی پروپیلن قرار گرفته اند. وجود یک سیستم تشخیص دهنده سیلیسیم لیتیم(Sili) وظیفه جداسازی و تشخیص هر عنصر را به عهده دارد. این مجموعه وسیله مناسبی برای تعیین مقدار همزمانی عناصر در حد نانوگرم در آزمایش های نمونه ها به صورت سری های چندتایی می باشد.تهیه نمونه ها با لایه های نازک و قرار دادن آن در منطقه موثر اشعه ایکس و همچنین خشک کردن مکرر آنها سبب پایین آمدن حداقل میزان قابل اندازه گیری می شود. این سیستم می تواند در مواردی که دسترسی به مقدار زیاد نمونه ممکن نیست مثلا در پزشکی و بیولوژی برای تعیین مقدار فلزات با غلظت بسیار کم مورد استفاده قرار گیرد. علاوه بر آن، تعیین مقدار مستقیم نمونه ها و عدم نیاز به فعل و انفعالات شیمیایی مقدماتی امتیازاتی است که از نظر آلوده شدن آنها قبل از انجام آزمایش ها جلوگیری می نماید. تنها عملیات قبل از آزمایش می تواند مخلوط کردن نمونه ها با استانداردهای داخلی و قرار دادن و خشک کردن آنها بر روی ورقه های پلی پروپیلن باشد. نتایج آزمایش ها و مطالعه آماری بر روی صدها نمونه پلاسما، مورد ارزیابی قرار گرفته است.

استنادها

  • ثبت نشده است.
  • ارجاعات

  • ثبت نشده است.
  • استناددهی

    APA: کپی

    رستگار، فرامرز، لوروآ، موریس، و زارع، کریم. (1379). اسپکترومتری فلوئورسانس ایکس با سیستم تحریک مستقیم بر روی عناصر در حد نانوگرم و کاربرد آن در تعیین مقدار همزمانی فلزات در داخل پلاسم . علوم پایه (دانشگاه آزاد اسلامی)، 10(38)، 2750-2750. SID. https://sid.ir/paper/70482/fa

    Vancouver: کپی

    رستگار فرامرز، لوروآ موریس، زارع کریم. اسپکترومتری فلوئورسانس ایکس با سیستم تحریک مستقیم بر روی عناصر در حد نانوگرم و کاربرد آن در تعیین مقدار همزمانی فلزات در داخل پلاسم . علوم پایه (دانشگاه آزاد اسلامی)[Internet]. 1379؛10(38):2750-2750. Available from: https://sid.ir/paper/70482/fa

    IEEE: کپی

    فرامرز رستگار، موریس لوروآ، و کریم زارع، “اسپکترومتری فلوئورسانس ایکس با سیستم تحریک مستقیم بر روی عناصر در حد نانوگرم و کاربرد آن در تعیین مقدار همزمانی فلزات در داخل پلاسم ،” علوم پایه (دانشگاه آزاد اسلامی)، vol. 10، no. 38، pp. 2750–2750، 1379، [Online]. Available: https://sid.ir/paper/70482/fa

    مقالات مرتبط نشریه ای

    مقالات مرتبط همایشی

  • ثبت نشده است.
  • طرح های مرتبط

  • ثبت نشده است.
  • کارگاه های پیشنهادی






    مرکز اطلاعات علمی SID
    strs
    دانشگاه امام حسین
    بنیاد ملی بازیهای رایانه ای
    کلید پژوه
    ایران سرچ
    ایران سرچ
    فایل موجود نیست.
    بازگشت به بالا
    telegram sharing button
    whatsapp sharing button
    linkedin sharing button
    twitter sharing button
    email sharing button
    email sharing button
    email sharing button
    sharethis sharing button