مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

مقاله مقاله همایش

مشخصات مقاله

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

video

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

sound

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

نسخه انگلیسی

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید:

564
مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

دانلود:

140
مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

استناد:

اطلاعات مقاله همایش

عنوان

مشخصه یابی آلایش لایه ای سیلیکان - برون در ساختار Si/Si-B/Si رشد یافته به روش رونشانی پرتو ملکولی

صفحات

 صفحه شروع | صفحه پایان

کلیدواژه

ثبت نشده است

چکیده

 در این مقاله مشخصه یابی الکتریکی آلایش لایه ای سیلیکان - برون در ساختار Si/Si-B/Si که با سیستم رونشانی پرتو ملکولی (MBE) رشد یافته می پردازیم. پس از رشد ساختار، ولتاژ عرضی هال در گستره دمایی 60 تا 300 کلوین اندازه گیری شده و متعاقبا وابستگی دمایی ضریب هال به دست آمده است. با برازش نظری تغییرات دانسیته سطحی حفره ها نسبت به دما، چگالی و انرژی یونش ناخالصی، فاکتور هال و ضریب بالا کشیدگی تراز فرمی محاسبه شده است.

استنادها

  • ثبت نشده است.
  • ارجاعات

  • ثبت نشده است.
  • استناددهی

    APA: کپی

    صادق زاده، محمدعلی، ابوالحسنی، الهام، و غریب شاهی، لیلا. (1386). مشخصه یابی آلایش لایه ای سیلیکان - برون در ساختار Si/Si-B/Si رشد یافته به روش رونشانی پرتو ملکولی. کنفرانس ملی خلاء ایران. SID. https://sid.ir/paper/810209/fa

    Vancouver: کپی

    صادق زاده محمدعلی، ابوالحسنی الهام، غریب شاهی لیلا. مشخصه یابی آلایش لایه ای سیلیکان - برون در ساختار Si/Si-B/Si رشد یافته به روش رونشانی پرتو ملکولی. 1386. Available from: https://sid.ir/paper/810209/fa

    IEEE: کپی

    محمدعلی صادق زاده، الهام ابوالحسنی، و لیلا غریب شاهی، “مشخصه یابی آلایش لایه ای سیلیکان - برون در ساختار Si/Si-B/Si رشد یافته به روش رونشانی پرتو ملکولی،” presented at the کنفرانس ملی خلاء ایران. 1386، [Online]. Available: https://sid.ir/paper/810209/fa

    مقالات مرتبط نشریه ای

  • ثبت نشده است.
  • مقالات مرتبط همایشی

  • ثبت نشده است.
  • طرح های مرتبط

  • ثبت نشده است.
  • کارگاه های پیشنهادی






    بازگشت به بالا
    telegram sharing button
    whatsapp sharing button
    linkedin sharing button
    twitter sharing button
    email sharing button
    email sharing button
    email sharing button
    sharethis sharing button