مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

مقاله مقاله همایش

مشخصات مقاله

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

video

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

sound

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

نسخه انگلیسی

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید:

383
مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

دانلود:

0
مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

استناد:

اطلاعات مقاله همایش

عنوان

نانوتکنولوژی در لایه های نازک

نویسندگان

 مشفق علیرضا

صفحات

 صفحه شروع | صفحه پایان

کلیدواژه

ثبت نشده است

چکیده

 اصولا ذرات در مقیاس نانومتری دو ویژگی مهم دارند که عبارتند از: 1- از قوانین فیزیک کلاسیک در مورد اغلب پدیده های مربوط به آنها دیگر تبعیت نمی کنند بلکه از قوانین مکانیک کوانتمی استفاده می نمایند. لذا خواص اپتیکی، الکتریکی و مغناطیسی آنها در مقایسه با توده (bulk) همان ماده تغییر می کند. 2- با کاهش اندازه ذرات، نسبت سطح به حجم (A/V) سیستم زیاد می شود که این خاصیت از ویژگی های مهم و بارز کلیه سیستمهای متکامل نظیر مغز انسان، مدارات مجتمع (IC)، کاتالیستها و غیره است.در این مقاله، ابتدا اصول و مبانی علوم و فناوری نانو در سیستم های دوبعدی مشخصا لایه های نازک توصیف می گردد. سپس به کاربردهای مختلف نانوتکنولوژی در حوزه های گوناگون اشاره خواهد شد در ادامه، تکنیک های مختلف ساخت لایه های نازک به روش های فیزیکی و شیمیایی در مقیاس نانومتری ذکر می گردد.به منظور بررسی خواص سیستم های نانومتری به بعضی از نتایج تحقیقات اخیر گروه ما در زمینه ساخت لایه های نازک سیستم های نانومتری WO3/SiO2، Au/SiO2، CuOx/SiO2، Cu/SiO2،Ag/SiO2  و سیستمهای چند لایه ای نانومتری Co/Wx-Ta1-x/Si(100)، Ag/Ti/Co/Si(100)،Ag/W/Co/Si(100)  و Ni(Pt 5% at.)/Si(100) اشاره خواهد شد. در خاتمه، نتایج بکارگیری تکنیک های آنالیز مواد شامل اسپکتروسکوپی الکترونهای اوژه، اسپکتروسکپی فتوالکترونهای اشعه X، میکروسکوپ الکترونی عبوری، میکروسکوپ الکترونی رویشی، پراش اشعه ایکس، اسپکترومتری پس پراکندگی راترفورد برای سیستمهای مزبور ارایه می گردند.

چندرسانه ای

  • ثبت نشده است.

    • استنادها

  • ثبت نشده است.

    • ارجاعات

  • ثبت نشده است.

    • استناددهی

    APA: کپی

    مشفق، علیرضا. (1385). نانوتکنولوژی در لایه های نازک. سمینار مهندسی سطح و عملیات حرارتی. SID. https://sid.ir/paper/812622/fa

    Vancouver: کپی

    مشفق علیرضا. نانوتکنولوژی در لایه های نازک. 1385. Available from: https://sid.ir/paper/812622/fa

    IEEE: کپی

    علیرضا مشفق، “نانوتکنولوژی در لایه های نازک،” presented at the سمینار مهندسی سطح و عملیات حرارتی. 1385، [Online]. Available: https://sid.ir/paper/812622/fa

    مقالات مرتبط نشریه ای

  • ثبت نشده است.

    • مقالات مرتبط همایشی

  • ثبت نشده است.

    • طرح های مرتبط

  • ثبت نشده است.

    • کارگاه های پیشنهادی






    مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources
    مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources
    مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources
    مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources
    مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources
    فایل موجود نیست.
    بازگشت به بالا
    telegram sharing button
    whatsapp sharing button
    linkedin sharing button
    twitter sharing button
    email sharing button
    email sharing button
    email sharing button
    sharethis sharing button