مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

مقاله مقاله همایش

مشخصات مقاله

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

video

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

sound

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

نسخه انگلیسی

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید:

553
مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

دانلود:

492
مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

استناد:

اطلاعات مقاله همایش

عنوان

بررسی ساختار بلورین لایه نازک سلنیوم با میکروسکوپ الکترونی (TEM)

صفحات

 صفحه شروع | صفحه پایان

کلیدواژه

ثبت نشده است

چکیده

 در برخی از مقالات مربوط به گیرنده های نوری سلنیومی، از سلنیوم هگزاگونال زنجیره ای، مانند ساختار گوگرد صحبت به میان آمده است همچنین در بیشتر مقالات مربوط به صفحه های گیرنده نوری پایه سلنیومی از سل نیوم بی شکل (a-Se) صحبت می شود. برای مشخص شدن این موضوع ساختار بلورین و مرفولوژی لایه های نازک سلنیوم در میکروسکوپ الکترونی عبوری (TEM) مورد مطالعه و بررسی قرار گرفت. با پراش الکترون زاویه کوچک می توان ساختار ریزدانه های بلورین را در محدوده بسیار کوچکی (حدود 5nm) بررسی کرد، در صورتی که این کار به خاطر طول موج بزرگ تر اشعه ایکس مقدورنمی باشد سلنیوم دارای پنج ساختار بلورین شناخته شده است، که محدوده دمایی آنها، بسیار به هم نزدیک می باشد. و لذا تغییرات جزیی دما باعث تبدیل یک ساختار به ساختارهای دیگر می شود.در این تحقیق، ابتدا به روش تبخیر فیزیکی در خلا (PVD) لایه های نازک سلنیوم کاملا بی شکل در فشار 10-6mmHg و دمای زیرلایه در دمای محیط، لایه هایی به ضخامت 20-50nm به دست آمد سپس بعد از انتقال لایه روی نگهدارنده نمونه الکترونی، لایه های مذکور را ضمن مشاهده و پراش الکترونی، همزمان با تابش اشعه الکترون در درون میکروسکوپ الکترونی عبوری (TEM) تحت تاثیر عملیات حرارتی قرار گرفت. آزمایشها نشان داد که لایه ها در محدوده کوچک به صورت تک بلورهای هگزاگونال بودند از این آزمایش ها می توان نتیجه گرفت، که تک بلورهای ریز سلنیوم به طور نامنظم توزیع شده اند، که به آنها ریزبلورهای بی شکل گفته می شود. سلنیوم در این محدوده دمایی 125 درجه سانتی گراد دارای ساختار هگزاگونال زنجیره ای می باشد.

چندرسانه ای

  • ثبت نشده است.
  • استنادها

  • ثبت نشده است.
  • ارجاعات

  • ثبت نشده است.
  • استناددهی

    APA: کپی

    مرادی، ایرج، اژییان، رسول، جهانشاهی، کیوان، و میرابانها، مهدی. (1385). بررسی ساختار بلورین لایه نازک سلنیوم با میکروسکوپ الکترونی (TEM). سمینار مهندسی سطح و عملیات حرارتی. SID. https://sid.ir/paper/812699/fa

    Vancouver: کپی

    مرادی ایرج، اژییان رسول، جهانشاهی کیوان، میرابانها مهدی. بررسی ساختار بلورین لایه نازک سلنیوم با میکروسکوپ الکترونی (TEM). 1385. Available from: https://sid.ir/paper/812699/fa

    IEEE: کپی

    ایرج مرادی، رسول اژییان، کیوان جهانشاهی، و مهدی میرابانها، “بررسی ساختار بلورین لایه نازک سلنیوم با میکروسکوپ الکترونی (TEM)،” presented at the سمینار مهندسی سطح و عملیات حرارتی. 1385، [Online]. Available: https://sid.ir/paper/812699/fa

    مقالات مرتبط نشریه ای

  • ثبت نشده است.
  • مقالات مرتبط همایشی

  • ثبت نشده است.
  • طرح های مرتبط

  • ثبت نشده است.
  • کارگاه های پیشنهادی






    بازگشت به بالا
    telegram sharing button
    whatsapp sharing button
    linkedin sharing button
    twitter sharing button
    email sharing button
    email sharing button
    email sharing button
    sharethis sharing button