Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

مقاله مقاله نشریه

مشخصات مقاله

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

نسخه انگلیسی

Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

video

Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

sound

Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

نسخه انگلیسی

Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید:

652
Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

دانلود:

508
Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

استناد:

اطلاعات مقاله نشریه

عنوان

بررسی اثر پایداری دمای زیرلایه بر کیفیت لایه های اکسید روی در روش لایه نشانی لیزری

صفحات

 صفحه شروع 25 | صفحه پایان 29

چکیده

اکسید روی ZnO یکی از پرکاربرد ترین اکسیدهای فلزی نیم رساناست که به دلیل داشتن ویژگی های منحصر به فرد, کاربرد فراوانی در ساخت ادوات نوری دارد. ویژگی لایه های تهیه شده از این ماده به صورت مستقیم علاوه بر شرایط پرتودهی, به شرایط لایه نشانی آن نیز بستگی دارد. در این مقاله با هدف بررسی ثبات شرایط ترمودینامیکی بر کیفیت انباشت لایه های ZnO به روش لایه نشانی لیزر پالسی, مشخصه های حجم و فشار را در حین لایه نشانی ثابت در نظر گرفتیم و با سرد شدن تدریجی زیرلایه, عامل دما را به عنوان عامل موثر در تغییر شرایط ترمودینامیکی بررسی نمودیم. نتایج بدست آمده از بررسی طیف جذب مرئی-فرابنفش و تصاویر میکروسکوپی و SEM نمونه ها حاکی از آن است که کیفیت لایه ها در شرایط ترمودینامیکی پایدار به صورت موثری بهبود می یابد.

استنادها

  • ثبت نشده است.
  • ارجاعات

  • ثبت نشده است.
  • استناددهی

    APA: کپی

    سیم دار، مهرناز، حسنی، فائزه، موسوی، سیده ثریا، بصام، محمدامین، و سجاد، بتول. (1399). بررسی اثر پایداری دمای زیرلایه بر کیفیت لایه های اکسید روی در روش لایه نشانی لیزری. نانو مقیاس، 7(1 )، 25-29. SID. https://sid.ir/paper/256987/fa

    Vancouver: کپی

    سیم دار مهرناز، حسنی فائزه، موسوی سیده ثریا، بصام محمدامین، سجاد بتول. بررسی اثر پایداری دمای زیرلایه بر کیفیت لایه های اکسید روی در روش لایه نشانی لیزری. نانو مقیاس[Internet]. 1399؛7(1 ):25-29. Available from: https://sid.ir/paper/256987/fa

    IEEE: کپی

    مهرناز سیم دار، فائزه حسنی، سیده ثریا موسوی، محمدامین بصام، و بتول سجاد، “بررسی اثر پایداری دمای زیرلایه بر کیفیت لایه های اکسید روی در روش لایه نشانی لیزری،” نانو مقیاس، vol. 7، no. 1 ، pp. 25–29، 1399، [Online]. Available: https://sid.ir/paper/256987/fa

    مقالات مرتبط نشریه ای

    مقالات مرتبط همایشی

  • ثبت نشده است.
  • طرح های مرتبط

  • ثبت نشده است.
  • کارگاه های پیشنهادی






    بازگشت به بالا