Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

مقاله مقاله نشریه

مشخصات مقاله

Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

video

Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

sound

Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

نسخه انگلیسی

Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید:

559
Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

دانلود:

268
Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

استناد:

اطلاعات مقاله نشریه

عنوان

تکنولوژی نوین آزمون غیرمخرب با استفاده از امواج تراهرتز

صفحات

 صفحه شروع 43 | صفحه پایان 49

چکیده

 در این پژوهش امکان ارزیابی مواد به صورت غیر مخرب با استفاده از امواج تراهرتز بررسی شد. برای این منظور نتایج حاصل از تعیین ابعاد عیوب مشخص روی نمونه-های الگوی ساخته شده از جنس آلومینیوم, پلکسی گلاس و سرامیک دی اکسید زیرکونیوم با نتایج حاصل از اندازه گیری های ابعادی با روش هایی نظیر ماشین اندازه-گیری مختصات, میکروایکس و ماشین اندازه گیری مرئی مقایسه گردید. جهت انجام پژوهش, بسته به ماهیت نمونه و اطلاعات مورد نیاز از دو چیدمان سیستم تصویربرداری تراهرتز عبوری و انعکاسی بر پایه ی سیستم طیف سنجی حوزه ی زمانی تراهرتز استفاده شد که در آن تولید و آشکارسازی پالسهای امواج تراهرتز با استفاده از یک لیزر فمتوثانیه انجام می شود. نتایج نشان داد آزمون غیرمخرب تراهرتز در تشخیص عیوب (عیوب سطحی بسیار کم عمق و عیوب مخفی در بافت نمونه) و اندازه گیری ها برتر از برخی روش های متداول ذکر شده است. در مجموع بسته به انتظار از آزمون و نوع عملکرد آن, روش تصویربرداری با امواج تراهرتز را می توان جزو آزمون های غیرمخرب قابل رقابت با روش های متداول دانست.

استنادها

  • ثبت نشده است.
  • ارجاعات

  • ثبت نشده است.
  • استناددهی

    APA: کپی

    مرادیان نژاد، فرزاد، زنگنه، حمیدرضا، گلزارشهری، محسن، مرتضوی، سیدمحمدعلی، و سوری، علی. (1397). تکنولوژی نوین آزمون غیرمخرب با استفاده از امواج تراهرتز. فناوری آزمون های غیرمخرب، 2(3 )، 43-49. SID. https://sid.ir/paper/525614/fa

    Vancouver: کپی

    مرادیان نژاد فرزاد، زنگنه حمیدرضا، گلزارشهری محسن، مرتضوی سیدمحمدعلی، سوری علی. تکنولوژی نوین آزمون غیرمخرب با استفاده از امواج تراهرتز. فناوری آزمون های غیرمخرب[Internet]. 1397؛2(3 ):43-49. Available from: https://sid.ir/paper/525614/fa

    IEEE: کپی

    فرزاد مرادیان نژاد، حمیدرضا زنگنه، محسن گلزارشهری، سیدمحمدعلی مرتضوی، و علی سوری، “تکنولوژی نوین آزمون غیرمخرب با استفاده از امواج تراهرتز،” فناوری آزمون های غیرمخرب، vol. 2، no. 3 ، pp. 43–49، 1397، [Online]. Available: https://sid.ir/paper/525614/fa

    مقالات مرتبط نشریه ای

    مقالات مرتبط همایشی

  • ثبت نشده است.
  • طرح های مرتبط

  • ثبت نشده است.
  • کارگاه های پیشنهادی






    بازگشت به بالا