مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

نسخه انگلیسی
Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

video

Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

sound

Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

نسخه انگلیسی

Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید:

538
Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

دانلود:

468
Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

استناد:

اطلاعات مقاله نشریه

عنوان

بررسی و مقایسه ریزنشت Nanofilled resin modified glass ionomer و Conventional glass ionomer در حفرات کلاس V با استفاده از دو نوع باندینگ Self etch adhesive و Self etch primer

صفحات

 صفحه شروع 290 | صفحه پایان 297

چکیده

 زمینه و هدف: ریزنشت به عنوان معیاری جهت ارزیابی موفقیت هر ماده ترمیمی مطرح بوده و دستیابی به سیل مناسب نیز در مارجین ها مشکلات خاص خود را دارد, به ویژه در مارجین های عاجی بسیار مشکل تر از مینای دندان می باشد. تحقیق حاضر با هدف مقایسه ریزنشت در مارجین های مینایی و عاجی حفره های کلاس V در دو نوع GI با استفاده از دو نوع باندینگ مختلف Self etch انجام شد.روش بررسی: در سطوح باکال و لینگوال 40 دندان مولر, حفره های کلاس V تهیه شد؛ طوری که مارجین اکلوزالی حفرات در مینا و مارجین ژنژیوالی آن ها1 میلی متر پایین تر از CEJ قرار بگیرد. دندان ها به 4 گروه تقسیم شدند: گروه 1Fuji IX ,G bond گروه 2Fuji IX ,SE bond گروه 3GCP Glass fill ,G bond گروه 4GCP glass fill ,SE bond نمونه ها تحت چرخه های حرارتی قرار گرفتند؛ میزان ریز نشت اندازه گیری شد. جهت مقایسه ریزنشت از آزمون Kruskal-Wallis و برای مقایسه دو به دوی آن ها از تصحیح Bonferroni استفاده شد (P£0.05).یافته ها: رتبه های ریزنشت در دیواره اکلوزال و ژنژیوال تمام گروه های آزمایشی برابر بوده است. در دیواره ژنژیوال, کمترین رتبه های ریزنشت مربوط به گروه Fuji IX+SE bond بوده و تفاوت آن با گروه های Fuji IX+G bond و Nanoglass+G bond معنی دار بود (P£0.05). در دیواره اکلوزال؛ کمترین ریزنشت در گروه Fuji IX+SE bond دیده شد که با هر 3 گروه دیگر تفاوت معنی داری داشته است (P£0.05).نتیجه گیری: استفاده از SE bond در مقایسه با G bond در کاهش میزان ریزنشت انواع سمان های گلاس آینومر fuji IX) و (GCP glass Fill موثر بوده است.

استنادها

  • ثبت نشده است.

    • ارجاعات

  • ثبت نشده است.

    • استناددهی

    APA: کپی

    میرزایی، منصوره، یاسینی، اسماعیل، رنجبرعمرانی، لادن، رکنی، مرتضی، و درویش پور، حجت اله. (1394). بررسی و مقایسه ریزنشت Nanofilled resin modified glass ionomer و Conventional glass ionomer در حفرات کلاس V با استفاده از دو نوع باندینگ Self etch adhesive و Self etch primer. مجله دندانپزشکی (دانشگاه علوم پزشکی تهران)، 28(4)، 290-297. SID. https://sid.ir/paper/25576/fa

    Vancouver: کپی

    میرزایی منصوره، یاسینی اسماعیل، رنجبرعمرانی لادن، رکنی مرتضی، درویش پور حجت اله. بررسی و مقایسه ریزنشت Nanofilled resin modified glass ionomer و Conventional glass ionomer در حفرات کلاس V با استفاده از دو نوع باندینگ Self etch adhesive و Self etch primer. مجله دندانپزشکی (دانشگاه علوم پزشکی تهران)[Internet]. 1394؛28(4):290-297. Available from: https://sid.ir/paper/25576/fa

    IEEE: کپی

    منصوره میرزایی، اسماعیل یاسینی، لادن رنجبرعمرانی، مرتضی رکنی، و حجت اله درویش پور، “بررسی و مقایسه ریزنشت Nanofilled resin modified glass ionomer و Conventional glass ionomer در حفرات کلاس V با استفاده از دو نوع باندینگ Self etch adhesive و Self etch primer،” مجله دندانپزشکی (دانشگاه علوم پزشکی تهران)، vol. 28، no. 4، pp. 290–297، 1394، [Online]. Available: https://sid.ir/paper/25576/fa

    مقالات مرتبط نشریه ای

    مقالات مرتبط همایشی

  • ثبت نشده است.

    • طرح های مرتبط

  • ثبت نشده است.

    • کارگاه های پیشنهادی






    بازگشت به بالا