مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

نسخه انگلیسی
مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

video

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

sound

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

نسخه انگلیسی

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید:

1,051
مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

دانلود:

197
مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

استناد:

اطلاعات مقاله نشریه

عنوان

کاربرد روش تجزیه و تحلیل ریخت شناسی در بخش بندی اتوماتیک شش لایه زیرین شبکیه در تصاویر OCT) Optical Coherence Tomography)

صفحات

 صفحه شروع 166 | صفحه پایان 174

چکیده

 مقدمه: شبکیه, داخلی ترین بافت چشم است و به کمک عصب بینایی اطلاعات تصویری را به مغز ارسال می نماید. این بخش از چشم, ساختار لایه ای دارد و طراحی روشی که بتواند بدون تاثیر گرفتن از نوع اختلال تصویر و میزان آن و همچنین پایین بودن کنتراست تصویر, مرزهای لایه ها را به درستی مشخص نماید, از اهمیت فراوانی برخوردار می باشد. در این مطالعه, روش تلفیقی از دو روش تجزیه و تحلیل ریخت شناسی (MCA یا Morphological component analysis) و برنامه نویسی پویا (DP یا Dynamic programming) برای بخش بندی اتوماتیک شش لایه زیرین شبکیه به کار گرفته شد.روش ها: پایگاه داده شامل 55 نمونه اخذ شده از افراد طبیعی با استفاده از دستگاه TOPCON-OCT-1000 بود. این مطالعه, در دو مرحله صورت گرفت. برای تجزیه و تحلیل ریخت شناسی, دیکشنری هر تصویر با استفاده از خوشه بندی برداری به کمک مقادیر ویژه (K-SVD) محاسبه گردید و سپس روش MCA, روی دیکشنری های حاصل شده اعمال گردید و بخش های کارتون و بافت تصویر با انتخاب پایه های مناسب تفکیک شد. بخش بندی به روش DP در تصویر کارتون اجرا گردید و سطوح Retinal pigment epithelium (RPE), Verhoeff''s memberane (VM), Outer segment layer (OSL), Inner collagenous layer (ICL), Inner synaptic layer (ISL) و Outer limiting membrane (OLM) مشخص شدند.یافته ها: با مقایسه نتایج به دست آمده با استانداردهای موجود, مشاهده شد که کمترین خطا, مربوط به سطح OSL با مقدار خطای 0.167±0.030 بود. میزان خطای سطوح RPE, VM, ICL, ISL و OLM به ترتیب 0.33±-0.66, 0.31±0.59-, 0.49±1.00-, 0.61±1.72- و 0.51±1.05- بود.نتیجه گیری: تجزیه و تحلیل ریخت شناسی به کمک روش DP, می تواند به صورت یک روش اتوماتیک در بخش بندی شش لایه زیرین شبکیه عمل کند و بدون نیاز به انجام پیش پردازش, از صحت قابل قبولی در نتایج بخش بندی برخوردار است.

چندرسانه ای

  • ثبت نشده است.

    • استنادها

  • ثبت نشده است.

    • ارجاعات

  • ثبت نشده است.

    • استناددهی

    APA: کپی

    نیکنام، لیلا، و ربانی، حسین. (1395). کاربرد روش تجزیه و تحلیل ریخت شناسی در بخش بندی اتوماتیک شش لایه زیرین شبکیه در تصاویر OCT) Optical Coherence Tomography). مجله دانشکده پزشکی اصفهان، 34(373)، 166-174. SID. https://sid.ir/paper/50743/fa

    Vancouver: کپی

    نیکنام لیلا، ربانی حسین. کاربرد روش تجزیه و تحلیل ریخت شناسی در بخش بندی اتوماتیک شش لایه زیرین شبکیه در تصاویر OCT) Optical Coherence Tomography). مجله دانشکده پزشکی اصفهان[Internet]. 1395؛34(373):166-174. Available from: https://sid.ir/paper/50743/fa

    IEEE: کپی

    لیلا نیکنام، و حسین ربانی، “کاربرد روش تجزیه و تحلیل ریخت شناسی در بخش بندی اتوماتیک شش لایه زیرین شبکیه در تصاویر OCT) Optical Coherence Tomography)،” مجله دانشکده پزشکی اصفهان، vol. 34، no. 373، pp. 166–174، 1395، [Online]. Available: https://sid.ir/paper/50743/fa

    مقالات مرتبط نشریه ای

    مقالات مرتبط همایشی

  • ثبت نشده است.

    • طرح های مرتبط

  • ثبت نشده است.

    • کارگاه های پیشنهادی






    بازگشت به بالا
    telegram sharing button
    whatsapp sharing button
    linkedin sharing button
    twitter sharing button
    email sharing button
    email sharing button
    email sharing button
    sharethis sharing button